检索首页
阿拉丁已为您找到约 96029条相关结果 (用时 0.0339676 秒)

电子书《LED结构原理与应用技术》

本书结合国内外LED技术的发展和应用情况,以LED的封装技术和驱动技术为核心,全面系统地阐述了LED的最新应用技术。全书内容共分11章,分别详细介绍了光与照明、静电危害与防护

  https://www.alighting.cn/resource/2012/12/26/16498_01.htm2012/12/26 16:49:08

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

大尺寸LED背光源的热分析

LED散热,尤其是大功率LED的散热方面,国内外已有很多研究[7-8];但是这些研究主要集中在LED灯条本身,通过采用新材料、新技术使LED本身的散热性能提升[9-10],从

  https://www.alighting.cn/resource/2012/6/7/173621_29.htm2012/6/7 17:36:21

LED灯管的ies文件怎么做出来的

LED灯管的ies文件怎么做出来的qq:401681256杨工18218176176,用光度分布计测试出来,ies文件主要用于工程模拟一定面积内的灯具分布,灯具的发光角度,发光

  http://blog.alighting.cn/224385/archive/2015/2/3/365365.html2015/2/3 14:19:44

解决LED色度漂移问题

LED技术最大的优点:能够以电磁辐射的形式,产生频谱极窄的纯色光,而且效率高、无热辐射。如果产生的颜色正好是想要的颜色,固然很好,但是在普通照明应用中,我们真正想要的是“白色”的

  https://www.alighting.cn/resource/20130105/126201.htm2013/1/5 16:33:13

首页 上一页 2528 2529 2530 2531 2532 2533 2534 2535 下一页