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基于单机的led汉字显示屏设计与制作

c51的18,19脚的时钟端(xtall及xtal2)以及12mhz晶振x1、电容c2,c3组成,采用内振荡方式。复位电路采用简易的上电复位电路,主要由电阻r1,r2,电容c

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230164.html2011/7/19 0:20:00

led照明系统设计指南完全版

能过时了led光的使用寿命很长,这就可能使灯的概念变得过时了。照明级led不会像电灯泡那样出现灾难性失效。相反,照明级led在逐渐退化到其最初光输出通量(也称作流明维持)的70%之

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230161.html2011/7/19 0:18:00

如何为ccfl和led背光供电

中。在整个显示器背板上,可以沿lcd边缘或均匀间隔地安装1到24个或更多个电灯。通常,通过调节ccfl电流或电灯的占空比来控制亮度。最基本的驱动器是由5至48v直流电供电的dc-ac逆

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led灯光系统设计方法

据。根据系统需要可以利用选方式设计多flash存储。spi flash现在比较高容量可以做到4m bits。u6: 为通讯接口,用于于系统主机通讯控制节目播放的内容和下传节目数

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230150.html2011/7/19 0:11:00

模块化led大屏幕显示器的设计

共阳极扫描线将会对应32个发光单元,电流要求大,所以两端的驱动电路是分别设计的。数据线端使用ti公司的4tpic6b595。扫描端使用allegro公司的两2944。 显示模块

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led分选技术

个过程中,外延有可能碎裂、局部残缺碎裂或局部残缺,使得实际的芯分布与储存在分选机里的数据不符,造成分选困难。  从根本上解决芯测试分选瓶颈问题的关键是改善外延均匀性。如果一

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230127.html2011/7/18 23:59:00

led芯封装缺陷检测方法研究

],在led引脚式封装过程中,利用p-n结光生伏特效应,分析了封装缺陷对光照射led芯在引线支架中产生的回路光电流的影响,采用电磁感应定律测量该回路光电流,实现led封装过程中芯

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230114.html2011/7/18 23:52:00

降低高亮度led成本的晶圆粘结及检测

-金热压粘结过程中,一层1至3微米厚的金和阻隔粘结层被涂在每晶圆上。为了消除表面污染影响固态扩散机理,需进行几个步骤的清洗(紫外臭氧或化学湿处理)。粘结时的温度是250°to40

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led芯/器件封装缺陷的非接触检测技术

量在线检测的重点突破对象。  支架式全环氧包封的主要工序是[4],首先对led芯进行镜检、扩,并在一组连筋的支架排中每个led支架的反光碗中心处以及芯的背电极处点上银胶(即点

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led的封装技术比较

装结构,一般是用导电或非导电胶将芯装在小尺寸的反射杯中或载台上,由金丝完成器件的内外连接后用环氧树脂封装而成,其热阻高达150~250℃/w,新的功率型芯若采用传统式的le

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