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led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

通用市场中的高亮度led驱动应用技术

、内部低压轨道照明、太阳能照明、交通、应急车辆、显示器/屏背光、船舶应用、便携投影、替换低压卤素灯、汽车应用等。安森美ncp3065/6多模led驱动器(图6)是一种低成本应用,具

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/20/233191.html2011/8/20 0:27:00

智能led灯具迎来大发展时代

司目前的成交情况并不理想。   “对一些企业来说,现在面临的困难甚至比金融危机时更大。”梁月说,照明市场目前多被飞利浦、欧司朗等洋品牌垄断,而中国的照明产品大部分处于中低端市场,利

  http://blog.alighting.cn/114793/archive/2011/11/3/250076.html2011/11/3 17:22:44

通用市场中的高亮度led驱动应用技术

、内部低压轨道照明、太阳能照明、交通、应急车辆、显示器/屏背光、船舶应用、便携投影、替换低压卤素灯、汽车应用等。安森美ncp3065/6多模led驱动器(图6)是一种低成本应用,具

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258465.html2011/12/19 10:54:51

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

μm×350μm对角版图。芯片特性测试样品取圆片中心、划开后四分之一片位于直角顶点处的芯片,测试器是台湾长裕公司生产的t620型测试。     2 结果与讨论  我们对四种版

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258586.html2011/12/19 11:01:38

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

μm×350μm对角版图。芯片特性测试样品取圆片中心、划开后四分之一片位于直角顶点处的芯片,测试器是台湾长裕公司生产的t620型测试。     2 结果与讨论  我们对四种版

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261482.html2012/1/8 21:45:35

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

通用市场中的高亮度led驱动应用技术

、内部低压轨道照明、太阳能照明、交通、应急车辆、显示器/屏背光、船舶应用、便携投影、替换低压卤素灯、汽车应用等。安森美ncp3065/6多模led驱动器(图6)是一种低成本应用,具

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261597.html2012/1/8 21:55:12

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

μm×350μm对角版图。芯片特性测试样品取圆片中心、划开后四分之一片位于直角顶点处的芯片,测试器是台湾长裕公司生产的t620型测试。     2 结果与讨论  我们对四种版

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262654.html2012/1/29 0:35:55

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