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led照明产品检测方法中的缺陷和改善对策

传统的led 及其模块光、色、参数检测方法有脉冲驱动,ccd 快速光谱测量法,也有在一定的条件下,热平衡后的测量法,但这些方法的测量条件和结果与led 进入照明器具内的实际工

  https://www.alighting.cn/resource/2012/5/16/145543_62.htm2012/5/16 14:55:43

led灯具检测及改善

文章介绍了通过vf-tj 曲线的标出并控制led 在控定的结温下测量其光、色、参数不仅对采用led的照明器具的如何保证led 工作结温提供了目标限位,同时也使led 及其模块的

  https://www.alighting.cn/resource/2012/7/16/111456_40.htm2012/7/16 11:14:56

led灯具检测方法关键缺陷及改善策略

文章介绍了通过vf—tj 曲线的标出并控制led 在控定的结温下测量其光、色、参数不仅对采用led的照明器具的如何保证led 工作结温提供了目标限位,同时也使led 及其模块的

  https://www.alighting.cn/resource/2011/12/5/112021_20.htm2011/12/5 11:20:21

开关源的缓冲路设计

摘要:随着开关泺工作频率的提高,开关器件承受很大的热量和应力.从而形成过压。为此,常常需要设置各种缓冲路时其进行抑制。重点分析比较了三种缓冲路,并指出了各自的特点及设

  https://www.alighting.cn/resource/2011/12/5/102528_26.htm2011/12/5 10:25:28

led照明产品检测方法中的缺陷和改善的对策

led照明产品检测方法中的缺陷和改善的对策:文章介绍了通过vf—tj曲线的标出并控制led 在控定的结温下测量其光、色、参数不仅对采用led的照明器具的如何保证led工作结温提

  https://www.alighting.cn/resource/2011/3/9/104416_46.htm2011/3/9 10:44:16

led照明源及驱动路的保护

由于led源和驱动路容易遭受过冲击和短路故障而损坏,因此在驱动路设计中要充分考虑各种故障状态的保护措施,以提高路的可靠性,从而降低返修率。ptc可以实现交流源的过

  https://www.alighting.cn/resource/20150324/83739.htm2015/3/24 10:35:42

led照明产品检测方法中的缺陷和改善对策

文章介绍了通过vf-tj曲线的标出并控制led在控定的结温下测量其光、色、参数不仅对采用led的照明器具的如何保证led工作结温提供了目标限位,同时也使led及其模块的光、色、

  https://www.alighting.cn/resource/20141209/123956.htm2014/12/9 11:27:16

新型moleds的光学性能

将负折射率介质层(nridl)引入到微腔有机致发光器件(moleds)中,设计了新型的微腔器件。利用传输矩阵法对此器件的反射率大小、器件厚度对发射峰的影响以及致发光(el)光

  https://www.alighting.cn/resource/20130506/125644.htm2013/5/6 15:39:16

倒装芯片(flip-chip bonding)

连接芯片表面和底板时,并不是像引线键合一样那样利用引线连接,而是利用阵列状排列的,名为焊点的突起状端子进行连接。与引线键合相比,可减小安装面积。另外,由于布线较短,还具有特性优

  https://www.alighting.cn/2013/1/25 17:16:39

浅谈led灯具的散热设计

代。led的发光原理简单来说是由含洞之p型半导体与含子之n型半导体结合成之p-n二极管,在p-n二极管两端加上顺向偏压,当流通过时,子与洞流至接合面接合时会放出能量而发

  https://www.alighting.cn/2012/9/17 20:51:15

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