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led寿命测试:led加速老化测试技术

主要内容包括led主要特性、led寿命的定义、温度加速老化实验、led寿命计算原理、led老化测量周期的实验方法、主要测试设备及实际案例、led光源温度加速老化实验结果、led光

  https://www.alighting.cn/resource/2012/12/10/132946_53.htm2012/12/10 13:29:46

培训资料:led的测量

培训内容包括led测量的分类、led的主要的光学及电学和热特性、led的发光强度及总光通量和光谱分布测量、测试实例分析

  https://www.alighting.cn/resource/2012/12/5/95320_13.htm2012/12/5 9:53:20

led照明的光色测量基础知识

主要内容包括led的光色测量、led的光辐射安全性测试与评价、led光色测量与照明评价

  https://www.alighting.cn/resource/2012/12/3/15726_68.htm2012/12/3 15:07:26

jedec测试标准与led封装可靠性

通过了jedec测试的led封装在实际应用中可靠性更高,但是仍然没有办法使用这些高强度测试的结果来预测它们的额定寿命,焦建中解释说。

  https://www.alighting.cn/2012/11/30 15:48:24

led芯片技术的发展

、全角反射镜(odr)、外延片键合、激光剥离技术(llo)、倒装技术(flip chip)、光子晶体技术(phonic crystal)、ac led技术等,最后谈论了led芯片技

  https://www.alighting.cn/resource/2012/11/22/135022_85.htm2012/11/22 13:50:22

详解2012照明产品能效要求

内容包括:能效法规概要(问答)、照明业的影响:能效标准和取样程序、、确保贵公司的符合性(问答)、自检、第三方测试、行业运行的认证计划、附录1:目前美国能源部的照明产品能效标准、目

  https://www.alighting.cn/resource/2012/11/20/18538_82.htm2012/11/20 18:53:08

提高led外量子效率的研究进展

色照明光源普遍推广应用的一个绊脚石。文章简述了提高外量子效率的几种有效途径,如表面微粗化技术、芯片非极性面/半极性面生长技术、倒装芯片技术、生长分布布喇格反射层(dbr)结构、激

  https://www.alighting.cn/resource/20121120/126288.htm2012/11/20 18:12:22

湿法表面粗化提高倒装algainp led外量子效率

量的al,在al组分为0.4时,利用体积比为1∶10的hcl∶h3po4可以得到横向尺寸约为60nm,纵向尺寸约为150nm的最有利于出光的类三角圆锥型表面结构。器件测试结果表

  https://www.alighting.cn/2012/11/20 16:28:27

教室测试中ugr测量值的误差分析

为了规范上海市中小学教室灯具改造计划实施中的灯具安装等问题,上海市教委制定的《上海市中小学校教室专用灯具及现场照明技术要求》,其中现场测试部分的主要内容,根据使用的测试仪器的不

  https://www.alighting.cn/resource/2012/11/13/163510_55.htm2012/11/13 16:35:10

zhaga测试、认证及标志的使用许可简介

用许可、产品测试、产品认

  https://www.alighting.cn/resource/2012/11/13/111748_09.htm2012/11/13 11:17:48

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