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led寿命试验法

品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握led芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据led器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0

  http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00

led主要参数与特性

时r很大;开启电压对于不同led其值不同,gaas 为1v,红色gaasp 为1.2v,gap 为1.8v,gan 为2.5v。  (2)正向工作区:电流if 与外加电压呈指数关

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229836.html2011/7/17 22:29:00

高功率白光led散热问题的解决方案

石基板上制作出凹凸不平坦的结构,这样或许可以提高光输出量,所以,有逐渐朝向在芯片表面建立texture或photonics结晶的架构。例如德国的osram就是以这样的架构开发出

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230298.html2011/7/19 23:50:00

led芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握led芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据led器

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

用于lcd背光的led技术进步

中,led则拥有独特的优势,因为它们可以在低直流电压下正常工作。hbled的其他优点包括单位电能输入下光输出越来越高,以及优化色域的能力。最后,led宽广的调光能力也是某些应用中的一

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/20/233133.html2011/8/20 0:08:00

用于lcd背光的led技术进步

中,led则拥有独特的优势,因为它们可以在低直流电压下正常工作。hbled的其他优点包括单位电能输入下光输出越来越高,以及优化色域的能力。最后,led宽广的调光能力也是某些应用中的一

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258494.html2011/12/19 10:56:26

led芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握led芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据led器

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led寿命试验法

品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握led芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据led器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

led寿命试验法

品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握led芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据led器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

led芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握led芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据led器

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

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