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合迈光电(heg)探讨led灯具死灯的真正原因

以容易出现被感应静电损坏芯片的现象,led芯片漏电流增大也会造成led灯不亮。下雨天打雷容易出现供电线路感应高压静电,以及供电线路叠加的尖峰脉冲,都会使led产品遭受不同程度的损

  http://blog.alighting.cn/wanglin/archive/2013/5/6/316622.html2013/5/6 14:31:48

防爆灯具一般适用在哪些场所

炸性物质。氧气:空气中的氧气是无处不在的。点燃源:在生产过程中大量使用电气仪表,各种磨擦的电火花,机械磨损火花、静电火花、高温等不可避免,尤其当仪表、电气发生故障时。客观上很多工

  http://blog.alighting.cn/fbledd/archive/2015/7/23/372409.html2015/7/23 8:48:04

照明用led封装技术关键

、温度循环冲击、负载老化工艺筛选试验,剔除早期失效品,保证产品的可靠性很有必要。5 静电防护技术蓝宝石衬底的蓝色芯片其正负电极均位于芯片上面,间距很小;对于ingan/ algan

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229964.html2011/7/17 23:38:00

高亮度led发光效益技术

高亮度led虽然具备了更省电、使用寿命更长及反应时间更快等优点,但仍得面对静电释放(esd)损害和热膨胀系数(tce)等效能瓶颈;本文将提出一套采次黏着基台(submoun

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232808.html2011/8/19 0:16:00

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  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258579.html2011/12/19 11:01:19

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  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261488.html2012/1/8 21:45:48

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  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262661.html2012/1/29 0:36:32

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  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271763.html2012/4/10 23:32:00

高亮度led发光效益技术

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  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274758.html2012/5/16 21:30:13

请咨询吴先生:18300040990emc测试

r (闪烁)   ems测试项包括:esd (静电)  eft(瞬态脉冲干扰)  dip(电压跌落)  cs(传导抗干扰)  rs(辐射抗干扰)  surge(浪涌,雷击)pms(工

  http://blog.alighting.cn/123548/archive/2012/7/13/281779.html2012/7/13 17:10:57

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