站内搜索
d具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对led芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高led芯片的可靠性水平，以保证led芯片质量，为此我司在实
http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43
今宣布，导入「高功率」ic寿命模拟测试设备- htol(high temperature operating life test，高温工作寿命试验)，将可协助ic设计公司以更简易
https://www.alighting.cn/news/20130108/112855.htm2013/1/8 15:01:01
般采取加速实验的方法来测试推导led寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价led寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率led可靠性,
https://www.alighting.cn/2013/5/29 10:20:47
本文针对led驱动电源市场的现状，具体阐述了led驱动电源寿命和可靠性的概念，区别以及对led照明设备的重要性，并且提出了提高寿命和可靠性的具体的方法。
https://www.alighting.cn/resource/20130321/125841.htm2013/3/21 11:15:12
低环境要求使led的应用范围加大可靠的led芯片质量将延长led的使用寿命 摘要：介绍了led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准
http://blog.alighting.cn/tyqtyq/archive/2009/5/16/3426.html2009/5/16 18:50:00
手机翻盖寿命试验机科宝试验设备有限公司长期现货供应13423052557科宝可编程恒温恒湿试验箱/恒温恒湿试验箱/恒温恒湿机0769-82755882专业生产恒温恒湿试验箱.纸
http://blog.alighting.cn/kebao12345/archive/2010/9/11/96207.html2010/9/11 14:37:00
光led的寿命很长，不易进行劣化试验。传统劣化试验例如：电流加速试验、温度加速试验、加速耐候试验等等，接着本文要介绍“过电压劣化试验”的结果，以及白光led劣化的分析结
https://www.alighting.cn/resource/2012/6/20/104712_95.htm2012/6/20 10:47:12
速寿命试验的例
https://www.alighting.cn/resource/2010819/V1140.htm2010/8/19 13:46:26
