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品上照明2013年度led新品发布会在中山举行

本报讯(记者 叶森斐)近日,品上照明“新品上势”2013年度营销峰会暨led新品发布会在中山利和希尔顿酒店4楼宴会二厅正式拉开帷幕,共有品上照明公司领导、经销商以及行业媒体记者

  http://blog.alighting.cn/zszmzk/archive/2013/4/1/313072.html2013/4/1 11:33:46

芯片工业结合加快

2012年是中国led芯片工业“隆冬”之年。产能严峻过剩,报价继续跌落变成职业基调。特别是上游芯片范畴库存积压难以消化。涉及很多芯片厂商,使其日子越加难熬,当然这种情况直接影

  http://blog.alighting.cn/184907/archive/2013/8/15/323550.html2013/8/15 14:17:28

led芯片知识

led芯片知识 本文来自led导航网 led 是取自 light emitting diode 三个字的缩写,中文译为“发光二极管”,顾名思义发光二极管是一种可以将电能转化

  http://blog.alighting.cn/143797/archive/2012/6/30/280489.html2012/6/30 8:43:14

led芯片知识

led芯片知识 本文来自led导航网 led 是取自 light emitting diode 三个字的缩写,中文译为“发光二极管”,顾名思义发光二极管是一种可以将电能转化

  http://blog.alighting.cn/131218/archive/2012/7/23/283142.html2012/7/23 22:26:43

led芯片制造流程

随着技术的发展,led的效率有了非常大的进步。在不久的未来led会代替现有的照明灯泡。近几年人们制造led芯片过程中首先在衬底上制作氮化鎵(gan)基的外延片(外延片),外延片所

  http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120531.html2010/12/13 22:58:00

led芯片寿命试验

低环境要求使led的应用范围加大可靠的led芯片质量将延长led的使用寿命   摘要:介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

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