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引脚式led芯片封装工艺中封装缺陷不可避免。基于p-n结的光生伏特效应和电子隧穿效应,分析了一种封装缺陷对led支架回路光电流的影响。利用电磁感应定律对led支架回路光电流进
https://www.alighting.cn/resource/20120310/126683.htm2012/3/10 19:11:29
基于PN结的光生伏特效应，本文研究了一种非接触式led芯片在线检测方法。通过测量PN结光生伏特效应在引线支架中产生的光生电流，检测led封装过程中芯片质镀及芯片与支架之间的电气连
https://www.alighting.cn/resource/20091222/129007.htm2009/12/22 0:00:00
led随着输入电流的增加尽管光通量会提高，但发热量会变大。由此会出现发光层的温度（结温）升高而使发光效率降低，功耗增加，从而使结温进一步上升的恶性循环。
https://www.alighting.cn/resource/20110105/128104.htm2011/1/5 11:24:56
对于封装过程中的led芯片的检测目前还没有行之有效的方法,基于p-n结的光生伏特效应和法拉第定律,提出一种非接触式的针对led封装过程中芯片质量及芯片与支架之间连接状态的检测方
https://www.alighting.cn/resource/20110727/127386.htm2011/7/27 16:51:03
同类型的led管,光谱蓝白比w/b(w为整个白光发光光谱的积分,b为蓝光部分的积分)与PN结结温tj均存在线性关系,但线性关系式不同;对于同一led管,小电流对应直线斜率的绝对值比
https://www.alighting.cn/2013/3/20 11:21:05
led内部的PN结在应用到电子产品的制造、组装筛选、测试、包装、储运及安装使用等环节，难免不受静电感应影响而产生感应电荷，本文就led与静电之间的关系进行分析。
https://www.alighting.cn/resource/2012/3/7/163344_61.htm2012/3/7 16:33:44
led的散热现在越来越为人们所重视，这是因为led的光衰或其寿命是直接和其结温有关，散热不好结温就高，寿命就短，依照阿雷纽斯法则温度每降低10℃ 寿命会延长2倍
https://www.alighting.cn/resource/20150302/123554.htm2015/3/2 10:37:35
目前国内外对ledPN结结温的测试方法，没有涉及led灯具结温的测量。本标准规定了一种led灯具结温的测量方法。
https://www.alighting.cn/resource/20151009/133112.htm2015/10/9 10:30:17
研究了结温对于一体化封装的该新型白光led 发光特性的影响,结果表明:高显色led 的结温从30°c上升到130 °c的过程中,芯片的蓝光辐射出现了较大幅度的减少.
https://www.alighting.cn/2014/10/30 13:41:04
半导体器件的结温是一个重要参数，特别对于功率器件而言，结温直接决定了器件的可靠性和使用寿命。
https://www.alighting.cn/resource/20110503/127676.htm2011/5/3 13:27:38
