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led芯片寿命 试验方法

性下降到最低。 3.2光电参数测试方法与器件配光曲线 在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号并投入寿命试验,完

  http://blog.alighting.cn/tyqtyq/archive/2009/5/16/3426.html2009/5/16 18:50:00

下射灯用紧凑型荧光灯反射器的优化设计及其应用

乱无章,只能用于一般照明而不能用在对光通分布要求严格的场合.   2 对比测试数据   为了设计出一种适合紧凑型荧光灯用的反射器,上海威廉照明电气有限公司产品研发部最近

  http://blog.alighting.cn/1022/archive/2007/11/26/8226.html2007/11/26 19:28:00

青岛法兰克u型高频率节能灯,替代高压汞灯案例三

位王先生三、实际功率分析比较(一)、测试技术方法:本现场因工况条件所限,没有办法对原光源加装测试仪表进行实测。故商定对原光源和新光源,都按其额定功率为准,进行分析计算。(二)、功率取

  http://blog.alighting.cn/frankqingdao/archive/2008/6/8/8947.html2008/6/8 17:19:00

国内led产业已进入崭新发展阶段

高,器件可靠性研究位置越来越突出,测试技术与标准也渐成热点,所有这一切均标志着我国led产业已经进入了一个崭新的发展阶段。  技术创新能力提高  如果说前些年led行业是以跟踪为主、创

  http://blog.alighting.cn/yjl/archive/2008/9/26/9130.html2008/9/26 9:35:00

led芯片寿命试验

性下降到最低。   3.2光电参数测试方法与器件配光曲线   在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号并投入寿命试验,完

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

百度百科 lvd祥解

合一定的电器安全要求:例如,绝缘距离要求、耐高压要求、抗燃性要求、温升限制、关键零组件的使用寿命及异常状况测试等。 产品符合低电压指令(lvd)的证明   可以用三

  http://blog.alighting.cn/LVDEXPERT/archive/2009/11/2/10445.html2009/11/2 14:55:00

节能灯,替代250w汞灯,照度提高40%,节电80%

(一)、测试技术方法:本现场因工况条件所限,没有办法对原光源加装测试仪表进行实测。故商定对原光源和新光源,都按其额定功率为准,进行分析计算。 (二)、功率取值: 1、原250w汞

  http://blog.alighting.cn/frankqingdao/archive/2009/2/8/11650.html2009/2/8 16:40:00

美国fcc认证 ul认证 美国etl认证 欢迎咨询 13510624334

式:一,直接将产品送到美国tcb实验室完成,但这样一来费用会高、时间不好控制。二,将产品送到fcc认可的实验室(如北南)在实验室测试、准备资料、完成报告。再由实验室将测试报告送到tc

  http://blog.alighting.cn/karry617/archive/2010/3/16/36610.html2010/3/16 10:03:00

消防检测中重点注意事项

制室内的事故照明和应急照明。 2、 在进行报警系统自动报警功能测试前一定要确认报警控制器处于手动状态; 3、 检测报警功能时,应特别注意报警控制器的联动状态,以免造成误动作; 4

  http://blog.alighting.cn/quhua777847/archive/2010/4/11/39870.html2010/4/11 17:28:00

[原创]ems-7637_汽车电子干扰模拟系统(电话:13814855899)

1日正式颁布实施,该指令增加了对零部件瞬态抗扰度的测试要求,参考标准为iso7637-2、-3。 emc7637干扰测试仪器根据国际标准化组织制定iso7637-2:2004标准

  http://blog.alighting.cn/sztest/archive/2010/5/31/47083.html2010/5/31 15:33:00

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