检索首页
阿拉丁已为您找到约 7080条相关结果 (用时 0.0109973 秒)

室内照明测量方法

总则1.1 为统一照明的测量方法,确保测量的准确性,特制订本方法。1.2 测量目的1.2.1 检验照明设施与所规定标准的符合情况。1.2.2 调查照明设施与设计条件的符合情况。1

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230093.html2011/7/18 23:41:00

中国led灯具产业出口遇四重困境 亟待突破

区140家led灯具出口企业进行了情况调查调查表明我国出口led照明灯具产业发展存在四大困境亟待突破。目前,在宁波led相关实验室中,检验检疫实验室相对具有较好的基础,宁波电气安

  http://blog.alighting.cn/110231/archive/2012/7/19/282375.html2012/7/19 9:31:32

高危职业

修编道路照明设计标准,需要去道路现场作夜间调查和测量,原以为假期的路上车会少点,可对比平日,丝毫不见减少,前半夜,高密度车流使得测量几乎没法进行,到了后半夜,车子是少了,但车速飞

  http://blog.alighting.cn/1016/archive/2013/10/4/326863.html2013/10/4 9:57:38

led芯片寿命 试验方法

低环境要求使led的应用范围加大可靠的led芯片质量将延长led的使用寿命 摘要:介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果

  http://blog.alighting.cn/tyqtyq/archive/2009/5/16/3426.html2009/5/16 18:50:00

led芯片寿命试验

低环境要求使led的应用范围加大可靠的led芯片质量将延长led的使用寿命   摘要:介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

首页 上一页 304 305 306 307 308 309 310 311 下一页