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pse圆形安博检测可以自己测试发证的；pse菱形由第三方实验室测试 于日本机构审核发证 费用需要2万多 根据产品确定最终的价格。 申请pse圆形，提供可正常工作的样品两套，产品说
http://blog.alighting.cn/coninliu/archive/2011/7/21/230519.html2011/7/21 10:03:00
件 ( 所有复印件需加盖单位公章 ) 。并把报名资料投入第 10 号 报名箱中 ( 报名资料及“投标报名表”需密封档案袋内，并在密封袋上注明投标人名称和工程名称，同时在密封处加盖单
http://blog.alighting.cn/cmjlaya/archive/2011/7/21/230513.html2011/7/21 9:43:00
号层分开以防止串扰。图3为fpga的连接电路。本全彩led控制系统之所以选用fpga作为测试平台，其原因首先是fpga可以快速转向最终原型，其次是它的可再编程能力强，可以通过软件而
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230504.html2011/7/20 23:22:00
＝(pwm幅值×占空比)×0.2则led的iavg＝vavg/r11在图2中所给的例子中，r11为0.2ω。在相同测试条件下，当led电流由700ma降至350ma时，改进后电
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230498.html2011/7/20 23:20:00
来测试电池寿命，但在许多对成本敏感的小型设备中，这些芯片太过昂贵，而且功耗很大。用于手机等小型便携式设备，简单的解决方案是使用微功耗运放或电流监测器，并通过小的串联电阻测量放电电
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230495.html2011/7/20 23:19:00
0位为0时，max7219处于停机状态，扫描振荡器停振，所有显示器消隐，寄存器数据保持不变；当d0为1时，正常工作。地址×fh为显示测试寄存器，当其d0位为0时，正常工作；当d0为
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230490.html2011/7/20 23:17:00
大光量更加速封装材料的劣化，根据业者测试结果显示连续点灯不到一万小时，高功率白光 led 的亮度已经降低一半以上，根本无法满足照明光源长寿命的基本要求。 有关 led 的发光效
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230477.html2011/7/20 23:09:00
性。图3给出了几种通用的白色led驱动电路。图3. 对于典型的白光led，通常在if = 20ma下测试其电特性测。因此，为了得到预知的和匹配的亮度与色度，建议采用恒流驱
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230473.html2011/7/20 23:07:00
led寿命测试系统设计
https://www.alighting.cn/resource/2011/7/20/18289_35.htm2011/7/20 18:28:09
而并不是每次都需要进行补充测试，因为许多国家都采用了协调一致的标
https://www.alighting.cn/resource/2011/7/20/11290_01.htm2011/7/20 11:29:00
