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LED寿命试验法

验。生产工艺稳定时,1000小时的寿命试验频次较低,5000小时的寿命试验频次可更低。 3、过程与注意事项 对于LED芯片寿命试验样本,可以采用芯片,一般称为裸晶,也可以采用经过封装

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143401.html2011/3/17 21:37:00

LED寿命试验法

验。生产工艺稳定时,1000小时的寿命试验频次较低,5000小时的寿命试验频次可更低。 3、过程与注意事项 对于LED芯片寿命试验样本,可以采用芯片,一般称为裸晶,也可以采用经过封装

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143403.html2011/3/17 21:38:00

LED寿命试验法

验。生产工艺稳定时,1000小时的寿命试验频次较低,5000小时的寿命试验频次可更低。 3、过程与注意事项 对于LED芯片寿命试验样本,可以采用芯片,一般称为裸晶,也可以采用经过封装

  http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00

LED寿命试验法

验。生产工艺稳定时,1000小时的寿命试验频次较低,5000小时的寿命试验频次可更低。 3、过程与注意事项 对于LED芯片寿命试验样本,可以采用芯片,一般称为裸晶,也可以采用经过封装

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

LED寿命试验法

验。生产工艺稳定时,1000小时的寿命试验频次较低,5000小时的寿命试验频次可更低。 3、过程与注意事项 对于LED芯片寿命试验样本,可以采用芯片,一般称为裸晶,也可以采用经过封装

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

大功率LED路灯的散热结构设计和参数优化

《大功率LED路灯的散热结构设计和参数优化》在对原有结构参数化建模及热分析的基础上,采用正交试验分析了散热器中平板厚度、翅片厚度、翅片间距、翅片高度4因素对产品质量与散热效果的影

  https://www.alighting.cn/resource/2011/7/25/135414_08.htm2011/7/25 13:54:14

基于初级控制的LED恒流驱动电路的设计

基于初级控制技术,设计了一款6 w反激式LED恒流驱动电路,省略了传统的隔离光耦与次级调整电路。分析了电路恒压恒流的实现原理,并介绍了电路元件参数。在85~264 v交流输入电压

  https://www.alighting.cn/2014/1/2 11:01:55

基于低反馈电阻技术的LED照明驱动芯片设计

8 mv的基准电压电路的设计过程和仿真结果,设计了一种基于双极型、互补型、双扩散金属氧化物半导体(bcd)1.6μm工艺的功率LED照明驱动芯片以验证低反馈电阻技术.系统仿真结果表明

  https://www.alighting.cn/resource/20130510/125619.htm2013/5/10 10:28:08

发光二极管LED灯具在舞台照明中起步

从发光二板管的特点及应用现状介绍其作为舞台灯光的优点与不足,分析其在舞台灯光方面发展趋势。附件为《发光二极管LED灯具在舞台照明中起步》,欢迎大家下载学习!

  https://www.alighting.cn/resource/2014/7/18/184617_51.htm2014/7/18 18:46:17

锐高将发布talexxengine stark indi LED系统

锐高即将发布talexxengine stark indi,一款可同时提供均匀的直接照明与间接照明的LED系统。通过导光设计,向下光照与向上光照的比率为80%和20%。

  https://www.alighting.cn/pingce/20121213/n566246828.htm2012/12/13 9:28:30

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