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”技术确实有助于符合类似峰值emc测试要求，但最佳的方法是不产生任何辐射，而任何开关式调节器均难以实现这点。 辐射热、传导热与热管理 使用高
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133830.html2011/2/19 23:19:00
及制造生产，下游归led封装与测试，研发低热阻、优异光学特性、高可靠的封装技术是新型led走向实用、走向市场的产业化必经之路，从某种意义上讲是链接产业与市场的纽带，只有封装好的才能成
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133827.html2011/2/19 23:18:00
d工艺技术的发展，led产品正逐步进入(特种)照明市场，显示或指示用的传统led产品参数检测标准及测试方法已不能满足照明应用的需要。国内外的半导体设备仪器生产企业也纷纷推出各自的测
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133826.html2011/2/19 23:17:00
r1，r2，电容c1，开关k1组成，分别接至at89c51的rst复位输入端。 led点阵显示屏采用16×16共256个象素的点阵，通过万用表检测发光二极管的方法测试判断出该点
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133824.html2011/2/19 23:16:00
d照明也可能存在相同的标准和质量问题，并且这些问题可能以类似的方式延迟了led照明的使用。作为应对措施，美国能源部发起了“doe ssl商用产品测试计划(cptp)”，对led照
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133821.html2011/2/19 23:15:00
将《方法》讨论修改稿在该刊上刊登以供大家参考。 1 范围 本标准对led显示屏的机械、光学、电学等主要技术性能进行了分级，并严格规定了测试方法。 本标准适用于各类led显示
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133797.html2011/2/19 23:03:00
机系统设计、可靠性、制造工艺、检测测试手段等方面与国外有明显的差距。led显示的应用范围发展比较快，在社会生活的各个领域都得到了广泛的应用。 我国led显示产业的技术创新能
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133796.html2011/2/19 23:02:00
d。 只要当晶体管集电极的电流在额定范围之内，这个设计就可以拓展。测试电路使用了17个“被控”led加上1个闪烁led。使用3伏电压时测到的最大集电极电流是155毫安。最后版本的电
http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133792.html2011/2/19 22:52:00
些系列文章，供大家分享：近场与远场条件：远场测试方法：探测器距离光源足够远，达到远场条件。此方法假定光源为一点光源，这样必然造成测试错误，并随着测试距离的增加而减小，当该误差可以忽
http://blog.alighting.cn/light2all/archive/2011/2/17/133305.html2011/2/17 15:09:00
被opto diode推出的是高输出发光二极管产品，发射波长在624纳米（典型值），并具有窄波束角度，可应用于荧光医疗、科学测试仪器和法医学领
https://www.alighting.cn/pingce/20110217/123006.htm2011/2/17 13:51:31
