高功率Led封装的散热技术

长久以来，在对Led散热要求不是很高的情况下，Led多利用传统树脂基板进行封装。然而，随着市场应用领域不断扩大，需求层次不断提高，传统的树脂基板在高功率Led世纪的到来后，已渐

  https://www.alighting.cn/resource/20101026/128274.htm2010/10/26 9:20:10

avago发表高功率moonstone Led模组

安华高科技(avago technoLogies)推出adjd-wmxx/ymxx高功率moonstone Led模组。是新系列薄型随插即用高功率冷白光与暖白光Led模组产品，主

  https://www.alighting.cn/news/20080411/94257.htm2008/4/11 0:00:00

解析高功率白光Led应用及Led芯片的散热问题

  https://www.alighting.cn/news/20110215/91221.htm2011/2/15 9:34:33

gan基功率Led电应力老化早期的退化特性

对ingan/gan多量子阱蓝光和绿光Led进行了室温900 ma电流下的电应力老化,发现蓝光Led老化到24 h隧穿电流最小,绿光Led到6 h隧穿电流最小;同时,两种Le

  https://www.alighting.cn/2013/4/10 11:40:42

Led芯片寿命试验

介绍了Led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

Led芯片寿命试验

介绍了Led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

Led芯片寿命试验

介绍了Led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

Led芯片寿命试验

介绍了Led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

Led芯片寿命试验

介绍了Led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

Led芯片寿命试验

介绍了Led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36