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LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED器

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED器

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED器

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED器

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED器

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED器

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

10亿元LED芯片项目开发晶厦门奠基

开发晶计划投资近5亿美元,从事LED芯片和外延片、LED光源模组、LED灯源、LED灯具和LED应用产品的研发、封装、生产制造等。按照项目二期投资规划,2012年4月开始进行首

  https://www.alighting.cn/news/201168/n348932523.htm2011/6/8 18:23:22

到了关心“LED 光引擎”的时候了

本文论述了作者观点——LED得到照明用大功率的必由之路---“光引擎”,几个充分条件,最终形式的标准化,,接口,额定值,配光形式;性能检测项目,电气安全,性能,可靠性;几个必要条

  https://www.alighting.cn/2012/3/14 10:29:20

全新红外 power topLED 采用纳米堆叠(nanostack)技术,光输出提高 80%

款 LED 的光输出之所以能大幅提升,是因为它是属于以纳米堆叠 (nanostack) 技术制成的特殊薄膜芯

  https://www.alighting.cn/pingce/20111112/122668.htm2011/11/12 20:42:45

LED芯片寿命试验

观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0.3×~0.3mm2以下芯

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

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