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紫外LED:寿命延长10倍且成本减半

比采用其他技术生产的可替代产品提高10倍以上,成本降低超过50%,能量消耗降低70%以上,同时该产品还具有更加优越的光性

  https://www.alighting.cn/resource/20110801/127364.htm2011/8/1 9:38:44

基于uv-LED的双工紫外光通信方案

紫外光通信具有非常好的非视距传输和保密性能。传统的紫外光通信系统尺寸过大,难以实际应用。基于紫外线发光二级管(uv-LED)设计了一个紫外光通信系统,研究了光路设计、时钟恢复、信

  https://www.alighting.cn/resource/20160113/136368.htm2016/1/13 14:25:05

东京制定“节能及可再生能源东京标准”推进节能

日本东京都为进一步提高都内设施的节能性能,制定了“节能及可再生能源东京标准”。对现有标准进行了改进,追加了最新节能设备及各种可再生能源,与现有标准相比,用电量及二氧化碳排放量可削

  https://www.alighting.cn/news/20110805/100536.htm2011/8/5 11:21:18

关于下达《室内照明用LED日光灯通用技术条件》等19项地方标准制定、修订项目计划的通知

该地方标准的制定填补了山东省有关室内照明用LED日光灯标准的空白,将有利于规范LED灯具产品市场,推动产业的优化升级,促进LED产业的健康发展,实现LED照明替代传统光源,创造节

  https://www.alighting.cn/news/20111202/109472.htm2011/12/2 11:37:01

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

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