站内搜索
合在一起,相关的各个led的特性必须匹配,在交流工作状态还必须考虑其反向电特性,因此必须测试它们在工作点上的正向电流和正向压降,以及反向漏电流和反向击穿电压等参数。 (2)白
http://blog.alighting.cn/qq367010922/archive/2010/12/14/120865.html2010/12/14 21:46:00
明的标准，只有有关普通 led的测试标准和与普通光源有关的照明方面的标准。普通led的测试标准有： （ 1）iec60747-5 semiconductor device
http://blog.alighting.cn/qq367010922/archive/2010/12/14/120868.html2010/12/14 21:46:00
层的欧姆接触电极→合金→钝化→划片→测试→包装。 1.2 主要制造工艺 采用thomas swan ccs低压mocvd系统在50 mm si（111）衬底上生长gan
http://blog.alighting.cn/qq367010922/archive/2010/12/14/120857.html2010/12/14 21:43:00
、光通亮、色温、工作电压、反向击穿电压等几个关键参数进行测试与分选。led的测试与分选是led生产过程中的一项必要工序。目前，它是许多led芯片和封装厂商的产能瓶颈，也是led芯
http://blog.alighting.cn/qq367010922/archive/2010/12/14/120858.html2010/12/14 21:43:00
※ led生产及研发用设备和测试仪器 ※ 半导体照明工程产业化基地及研发机构成果展示 ◆广告收费： 封底 15,000元人民币 封二 10,000元人民币 封三 8,000元
http://blog.alighting.cn/flashhsj/archive/2010/12/14/120790.html2010/12/14 16:42:00
面（背光模组、显示器），需要设计新的方法进行测试。显然无论使用积分球，还是传统的点式亮度计都有相当的困难。图像式亮度计可以提供快速、可行的测试方法。除了需要对不同位置的光强（亮度）
http://blog.alighting.cn/light2all/archive/2010/12/14/120760.html2010/12/14 14:46:00
时一并做比对。 做成成品后不同高度做跌落实验,（跌落高度供参考：5cm、10cm、15cm、20cm、25cm,）根据型号类别不同进行切割或弯脚、切脚加工等,再进行测试,记录测
http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120559.html2010/12/13 23:07:00
低。 当在p-n结上施加了合适的电压时，它就会发出峰值为365纳米的光，其发光范围属于紫外区域。小组制造并测试了超过40个这种led，每个都显示出相似的发光性能。同时新型led
http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120561.html2010/12/13 23:07:00
境安全、机械安全、健康安全、安全使用时间等因素。 从电气安全角度看，应符合相关的国际、国家标准。由于led是新产品，中国国家标准滞后，但国家提供产品合格测试。具有国际安全认证（如gs
http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120557.html2010/12/13 23:06:00
用具有重要意义。 我们已于2001年立项进行了彩色pdp荧光材料产业化研究，2004年9月通过国家发改委的验收。我们开发了一套pdp荧光粉发光性能测试系统，解决了国内pdp荧光粉测
http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120554.html2010/12/13 23:05:00
