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的宣言

cie的物理度学系统是过时的“协议” cie的物理度学系统是过时的“协议”,再也不能用物理量和数字量去讨论了; 明视觉和暗视觉的数字分界是主观的、僵死的、静态的、机械的,事

  http://blog.alighting.cn/jiangguoliang/archive/2009/4/23/9893.html2009/4/23 10:38:00

led行业热点技术分析

+荧粉实现的过程就是封装。至于为什么市场上的免封装技术炒热的原因,陈博士表示因为免封装省去了一些环节,是可以让成本做到成品最低的技术。pfc免封装产品中,运用flipchi

  http://blog.alighting.cn/xyz8888888/archive/2013/12/1/345357.html2013/12/1 18:56:56

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258638.html2011/12/19 11:10:15

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261435.html2012/1/8 21:28:55

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262606.html2012/1/29 0:33:13

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/qq88655029/archive/2010/10/18/108672.html2010/10/18 15:16:00

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271708.html2012/4/10 23:23:34

照明led燈溫度特性的研究 (一)

摘要:本文分析了led照明源色座標、顯色指數、色溫和發效率與驅動電流和溫度的關係。驅動電流的增加將引起藍波峰的長移,並隨電流的增大而增大;但其對色座標、色溫和顯色指數並

  http://blog.alighting.cn/1137/archive/2007/11/26/8181.html2007/11/26 19:28:00

led衰定义及影响因素

要是由芯片、萤粉和封装技术决定的。目前,市场上的led其衰可能是向民用照明进军的首要问题之一。   2、影响led衰的两大因素   1)led品质问题   采

  http://blog.alighting.cn/zaqizaba/archive/2011/6/20/222303.html2011/6/20 22:55:00

功率型led的封装技术

小功率led 获得广泛的应用。从上世纪九十年代开始,由于led 外延芯片技术上的突破,使超高亮四元系algainp 和gan 基的led 既能发射可见波长的可组合各种颜色和

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229961.html2011/7/17 23:36:00

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