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leD晶圆技术的未来发展趋势

e的缺点是很难精确控制膜厚,反应气体对设备具有腐蚀性,影响gan材料纯度的进一步提高。3.选择性晶圆生长或侧向晶圆生长技术采用这种技术可以进一步减少位错密度,改善gan晶圆层的晶

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229928.html2011/7/17 23:20:00

seD显示技术

题;(2)发光完全可控,不存在液晶显示的背光泄漏或等离子显示的预放电问题,黑色表现力大大提高;(3)发光效率可达5lm/w,使其耗电量只有同规格的等离子和液晶显示器的一半;(4)由

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229937.html2011/7/17 23:25:00

leD贴片胶如何固化

热分析(Dsc),鉴定黏合剂性能。2、光固化当采用光固化胶时,则采用带uv光的再流炉进行固化,其固化速度快且品质又很高。通常再流炉附带的此外灯管功率为2-3kw,距pca约10cm高

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229945.html2011/7/17 23:28:00

红色荧光粉介绍

同的碱土金属元素及其含量对荧光粉的激发和发射光谱有不同的影响。图3为ca、sr比不同的情况下在460nm蓝光激发时该荧光粉的发射光谱。随着钙含量的增加,发射峰朝长波方向移动,且发

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229950.html2011/7/17 23:30:00

leD技术在机械视觉中的应用

成,leD精确地围绕在边缘以提供照明。最终成品的均衡度为+/- 3%,亮度高达30,000 cD/m2,是光纤背光与150瓦卤素光源组合亮度的6.5倍。有高亮的红光或白光可癣尺寸各异

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229958.html2011/7/17 23:35:00

leD技术在机械视觉中的应用

成,leD精确地围绕在边缘以提供照明。最终成品的均衡度为+/- 3%,亮度高达30,000 cD/m2,是光纤背光与150瓦卤素光源组合亮度的6.5倍。有高亮的红光或白光可癣尺寸各异

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leD封装对光通量的强化原理

D bragg reflector)反射层,将另一边的光源折向同一边。gan方面则将基板材料换成蓝宝石(sapphire,al2o3,三氧化二铝)来增加反射,同时将基板表面设计成凹凸纹状,藉

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229962.html2011/7/17 23:37:00

leD隧道照明的技术指标

准。例如,专门针对功率因数校正(pfc)或降低谐波电流的强制标准要求iec1000-3-2的出现。目前功率因数校正主要有两大类:有源功率因数校正、无源功率因数校正。有源功率因数校正精

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229970.html2011/7/17 23:41:00

背光源(backlight)的起源发展及分类

类:lcD为非发光性的显示装置,须要藉助背光源才能达到显示的功能。背光源性能的好坏除了会直接影响lcD显像质量外,背光源的成本占lcD模块的3-5%,所消耗的电力更占模块的75

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高亮度leD封装热导原理

型leD的作法,除了将单一发光裸晶的面积增大外,也有实行将多颗裸晶一同封装的作法。事实上有的白光leD即是在同一封装内放入红、绿、蓝3个原色的裸晶来混出白光。注2:虽然各种leD的点

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