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看芯片可测试性设计(图)

随著芯片的整合度越来越高、尺寸越来越小,内部的复杂度也随之不断上升,半导体制程中可能各种失效状况、材料的缺陷以及制程偏差等,都有可能导致芯片中电路连接的短路、断路以及元件穿隧效应

  https://www.alighting.cn/resource/20071211/V13118.htm2007/12/11 9:11:52

led封装工程师的个人调研总结(二)

继续分享一位led封装工程师的调研个人总结,总结分为五个部分呈现:一. 材料和配件;二. 封装结构;三. 失效模式;四. hv-ac芯片;五. cob,sip。希望这个分享可以让

  https://www.alighting.cn/resource/20141209/123952.htm2014/12/9 15:00:33

大功率led芯片抗过电应力能力研究

大。实验结果表明:市场上常见的大功率led芯片失效的脉冲电流峰值范围在12a到35a之

  https://www.alighting.cn/resource/20131114/125121.htm2013/11/14 16:33:06

led灯具寿命提高需要不断的优化设计

在led产品体系中,60%以上的生产故障以及70%以上的市场返修都是由于器件失效引起的,但是大多数公司对此却没有采用系统化的电子可靠性工程方法来解决,导致产品质量不高,使用寿命不

  https://www.alighting.cn/2012/2/16 11:04:07

数字led驱动的街道照明系统

为了通过降低正向电压解决热漂移问题,提高系统总体能效,通过pwm和/或模拟调光技术控制亮度,获得防失效管理和过热控制功能,照明系统对具有特定控制功能的led驱动器的需求不断提

  https://www.alighting.cn/resource/20110810/127329.htm2011/8/10 17:01:29

快充让锂电池保护元件化敌为友

锂电池是目前能量密度很高而且很轻的电池,但是由于化学特性非常活跃,所以本身因为有安全保护的需要,而增加充放电保护电路。充放电保护电路关键元件——mosfet也有一定比率的短路失

  https://www.alighting.cn/resource/20151116/134217.htm2015/11/16 11:33:26

看芯片可测试性设计(图)

随著芯片的整合度越来越高、尺寸越来越小,内部的复杂度也随之不断上升,半导体制程中可能各种失效状况、材料的缺陷以及制程偏差等,都有可能导致芯片中电路连接的短路、断路以及元件穿隧效应

  https://www.alighting.cn/news/20071211/V13118.htm2007/12/11 9:11:52

led驱动电源的选择和设计应考虑的问题

led是具有二极管特性的发光管,它只能单方向通电。通常led亮度输出与通过led电流成正比,但白光led在大电流下会出现饱和现象,发光效率大幅度降低,甚至失效,因此led使用电

  https://www.alighting.cn/news/2009714/V20203.htm2009/7/14 10:29:00

电子镇流器控制器及其典型应用

动、超温及灯失效关闭和可调光等功

  https://www.alighting.cn/news/200728/V12439.htm2007/2/8 14:40:07

“无电源”:led产品成本革新

业内流传,“100个坏掉的灯中,有99个是因为驱动电源出现问题”。led照明产品的实际使用寿命远远低于理论值,其根本原因就在于驱动电源的失效。并且,驱动电源在led整灯成本中占

  https://www.alighting.cn/news/20150310/86316.htm2015/3/10 9:52:11

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