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况，我们规定了加严寿命试验的办法，即每区4～6粒芯片，共16～20粒芯片，按正常条件进行寿命试验，只是数量加严，而不是试验条件加严；第三，一般地说，抽样数量越多，风险性越小，寿命试
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36
、红外等广域光线环境下自动显示出目标的准确位置(点)、图形、符号、数码等,精确跟踪高速运动的目标,特别适用于具有高性能、高可靠要求的系统和装备。 美、俄、日、加、荷、法、德等国都
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274743.html2012/5/16 21:29:24
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274742.html2012/5/16 21:29:22
、微光、红外等广域光线环境下自动显示出目标的准确位置(点)、图形、符号、数码等,精确跟踪高速运动的目标,特别适用于具有高性能、高可靠要求的系统和装备。 美、俄、日、加、荷、法、德等
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274731.html2012/5/16 21:28:51
统和装备。 美、俄、日、加、荷、法、德等国都在加紧进行led平板显示器的光电混合集成、综合显示和控制技术的研究工作,对军事装备和民用设备性能的提高和改型起到愈来愈重要的作用。我
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274727.html2012/5/16 21:28:31
总裁张彦伟表示，封装技术的差异直接影响了led的质量，良好的封装和散热技术可以使led工作在结温60℃以下，寿命可以超过5万小时。而差的封装技术则会使led寿命缩短一半以上。“le
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274712.html2012/5/16 21:27:39
高的。光强与流明是比小功率大，但同样散热也很大，现在大功率都是单颗应用，加很大的散热片。小功率一般是0.06w左右的。插件和食人鱼等。现在led手电一般是用小功率用的，光散不散，取决
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274708.html2012/5/16 21:27:28
s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的瞬态/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳，例如，在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274702.html2012/5/16 21:27:11
利保护。目前,开展或试行这样合作的有美国专利商标局(uspto)、日本专利局(jpo)、欧洲专利局(epo)等。2009年9月25日,日美欧等21个国家和地区的专利机构与wip
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274697.html2012/5/16 21:26:57
5月10日，春意正浓，在激情四溢的音乐节拍和热情飞扬的舞狮队中，中力国际集团常务副总裁吴礼伟在开业庆典上宣布，鼎力打造的“中部led照明交易中心”已经扬帆起航。
https://www.alighting.cn/news/20120515/99386.htm2012/5/15 13:51:51
