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流部件及连接件13.耐热、防火及耐漏电起痕14.耐腐蚀 除上述要求外，独立式led控制装置还应满足： 1. gb 19510.14 附录 i 2. gb 7000相关要求 二
http://blog.alighting.cn/CVC_123/archive/2011/8/19/232848.html2011/8/19 10:22:00
些高新技术也为灯光系统新设备、新技术的开发、生产、使用和维护带来了巨大的变化,影视照明设备数字化、智能化、电脑化、网络化是不可避免的发展趋势。新技术设备的使用极大地丰富了影视创作手
http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232838.html2011/8/19 1:20:00
此外,灯光网络文件总服务器通过光纤或网线接入各个剧尝电视演播室的控制室网络工作站,一方面 ,它播室主流的灯光控制系统。
http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232837.html2011/8/19 1:16:00
、腐蚀气氛对电路的损害；③提供内、外电路的电气连接及其它必需的通路(如光、磁等)。封装分为气密性封装和非气密性封装两大类。因使用环境及高可靠的需要,64×32led平板显示器对封装既
http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232836.html2011/8/19 1:10:00
片mcl4499(1c3)的公共时钟和公共数据线,p1．2,p1．3分别连接ic3,ic4的使能端en。en＝1时,ic3,ic4封闭,cpu可对ic2进行复位、搜索准备和搜索键号等操
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蚀气氛对电路的损害；③提供内、外电路的电气连接及其它必需的通路(如光、磁等)。封装分为气密性封装和非气密性封装两大
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如,以太网和fddi标准指定采用多模62.5/125μm石英玻璃光纤。这些细纤芯的光纤需要高精度连接器以减少耦合损耗,对于工业应用,需要低成本的光缆和连接器。因此,1mm的po
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介绍了led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试
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焊球，可以使led晶粒紧密地与submount接合在一起，再经由打线连接到导线框。这种方式能降低因直接打线到led晶粒所产生的遮光影响。在图一所示的submount两边都有绿色的
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近驱动器的位置。此外，电流设定电阻(rfb)应该直接连接至芯片的接地，因为内部参考和检测电压之间的错误会直接影响led电流精确度。 4. 在真实环境下测您的试产品 考虑显示屏在外
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