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led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

工业级高信赖性led路灯系统评量指针

境温度为60℃因此路灯散热系统温升必须小于δt≦15℃,以本公司150wled路灯为例热传散热系统温升测试低达δt≦12~15℃,计算其热阻值tr=0.08~0.1℃/w,而一般设

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258578.html2011/12/19 11:01:16

工业级高信赖性led路灯系统评量指针

境温度为60℃因此路灯散热系统温升必须小于δt≦15℃,以本公司150wled路灯为例热传散热系统温升测试低达δt≦12~15℃,计算其热阻值tr=0.08~0.1℃/w,而一般设

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261489.html2012/1/8 21:45:52

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

工业级高信赖性led路灯系统评量指针

境温度为60℃因此路灯散热系统温升必须小于δt≦15℃,以本公司150wled路灯为例热传散热系统温升测试低达δt≦12~15℃,计算其热阻值tr=0.08~0.1℃/w,而一般设

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262662.html2012/1/29 0:36:34

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

工业级高信赖性led路灯系统评量指针

境温度为60℃因此路灯散热系统温升必须小于δt≦15℃,以本公司150wled路灯为例热传散热系统温升测试低达δt≦12~15℃,计算其热阻值tr=0.08~0.1℃/w,而一般设

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271764.html2012/4/10 23:32:04

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

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