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s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的瞬态/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳，例如，在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262715.html2012/1/29 0:39:30
高的。光强与流明是比小功率大，但同样散热也很大，现在大功率都是单颗应用，加很大的散热片。小功率一般是0.06w左右的。插件和食人鱼等。现在led手电一般是用小功率用的，光散不散，取决
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262710.html2012/1/29 0:39:15
总裁张彦伟表示，封装技术的差异直接影响了led的质量，良好的封装和散热技术可以使led工作在结温60℃以下，寿命可以超过5万小时。而差的封装技术则会使led寿命缩短一半以上。“le
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262706.html2012/1/29 0:39:02
统和装备。 美、俄、日、加、荷、法、德等国都在加紧进行led平板显示器的光电混合集成、综合显示和控制技术的研究工作,对军事装备和民用设备性能的提高和改型起到愈来愈重要的作用。我
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262691.html2012/1/29 0:38:09
、微光、红外等广域光线环境下自动显示出目标的准确位置(点)、图形、符号、数码等,精确跟踪高速运动的目标,特别适用于具有高性能、高可靠要求的系统和装备。 美、俄、日、加、荷、法、德等
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262687.html2012/1/29 0:37:54
、红外等广域光线环境下自动显示出目标的准确位置(点)、图形、符号、数码等,精确跟踪高速运动的目标,特别适用于具有高性能、高可靠要求的系统和装备。 美、俄、日、加、荷、法、德等国都
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262677.html2012/1/29 0:37:20
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262676.html2012/1/29 0:37:17
况，我们规定了加严寿命试验的办法，即每区4～6粒芯片，共16～20粒芯片，按正常条件进行寿命试验，只是数量加严，而不是试验条件加严；第三，一般地说，抽样数量越多，风险性越小，寿命试
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03
以顺序读方式连续读显示数据，并将显示数据送p2口。 (4)每读一个数据通过p3.5产生一个sck脉冲(sst25vf016b在顺序读方式下地址自动加1)，将p2口上的显示数据移入7
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262664.html2012/1/29 0:36:41
率在100hz左右或更高，那么两个led将呈现出稳定的照亮状态。本电路最好是采用具有施密特触发器或模拟输入的微控制器。其他种类的微控制器有可能在输入被加有靠近电源电压中心的偏压时产生不
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262657.html2012/1/29 0:36:06
