站内搜索
b4208-1993外壳防护等级(ip代码)gb5080.7-86设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验 方案gb17743-1999电气 照明和类似设
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230110.html2011/7/18 23:50:00
明维持 •相关色温•颜色维持 •其它可靠性及失效分析•高压蒸煮 •寿命分析•高温/低温 •高加速寿命试验 & 高加速应力筛选•振动 •其他•温度循环能效测试•能源之星 •中
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230103.html2011/7/18 23:47:00
d封装形式,将会因为散热不良而导致芯片结温迅速上升和环氧碳化变黄,从而造成器件的加速光衰直至失效,甚至因为迅速的热膨胀所产生的应力造成开路而失效。对于大工作电流的功率型led芯片,低
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230090.html2011/7/18 23:28:00
感性元件暴露在回流焊接期间升高的温度环境下,陷于树脂的表面贴装元件(smd, surface mount device)内部的潮湿会产生足够的蒸汽压力损伤或毁坏元件。常见的失效模
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229971.html2011/7/17 23:41:00
/ w,新的大功率芯片若采用传统式的led 封装形式,将会因为散热不良而导致芯片结温迅速上升和环氧碳化变黄,从而造成器件的加速光衰直至失效,甚至因为迅速的热膨胀所产生的应力造成开路
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229964.html2011/7/17 23:38:00
灯的半衰期(此处的半衰期指的是有一半数量的灯失效的时间)典型值是10万到数千小时不等,具体时间取决于灯的额定工作电流。表面贴装led为了利用自动化组装技术降低制造成本,从20世纪8
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229925.html2011/7/17 23:19:00
条 件下关断电源可降低功耗并延长电池使用寿命。负载断开led驱动电源中一个经常被忽视的功能是负载断开。在电源失效时负载断开功能可以把led从电源断开。这种功能在下列两种情况下至关重
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229918.html2011/7/17 23:12:00
控,led长期工 作在大电流下将影响led的可靠性和寿命,并有可能失效。??3． 各种led驱动电路拓扑结构的简要分析??天下明科技近年来致力于led驱动电路的开发,已研发出多种le
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229900.html2011/7/17 23:05:00
d在工作过程中会放出大量的热,使管芯结温迅速上升,led功率越高,发热效应越大。led芯片 温度的升高将导致发光器件 性能的变化与电光转换效率衰减,严重时甚至失效,根据实验测试 表
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229856.html2011/7/17 22:43:00
接时需要一个相对平坦的表面，一个深邃的阶梯状结构将使得导线结构薄弱，在高电压、高电流驱动下易产生毁损，造成晶片的失效，因此平坦化制程的开发就变得重要。理想的状态是在做绝缘层时，能一并
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229849.html2011/7/17 22:37:00
