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背光源(backlight)的起源发展及分类

类:lcD为非发光性的显示装置,须要藉助背光源才能达到显示的功能。背光源性能的好坏除了会直接影响lcD显像质量外,背光源的成本占lcD模块的3-5%,所消耗的电力更占模块的75

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229972.html2011/7/17 23:42:00

高亮度leD封装热导原理

型leD的作法,除了将单一发光裸晶的面积增大外,也有实行将多颗裸晶一同封装的作法。事实上有的白光leD即是在同一封装内放入红、绿、蓝3个原色的裸晶来混出白光。注2:虽然各种leD的点

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230092.html2011/7/18 23:40:00

各种“酷刑” 检测照明产品的的靠性

次,每次间隔8秒以上,然后断电,再把电压调至170v,通电观察,最后把电压调至250v,老化2小时后,开关3次每次间隔8秒,老化结束。在以上的试验过程中如发现问题的均为不合格产品,需

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230112.html2011/7/18 23:51:00

日本《照明用白色leD测光方法通则》

准的内容仍有扩充空间,四团体于2006年3月公布此标准的修订版,增加且修订原先的标准内容,在色度学的量测以及光通量的量测方式等作出更详细的规范。然基于谨慎的心态,有许多部分仍然是被放

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230113.html2011/7/18 23:51:00

leD光源的视觉亮度与灯具测量的误差分析

实这是因为leD光源与高压钠灯所发出的光的光谱特性不同产生的,leD光源光谱分布最为接近人眼的明视觉、暗视觉分布区域,而高压钠灯光谱成分绝大部分在这一区域之外。  3、理想的照度

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230130.html2011/7/19 0:00:00

日本白光leD测量标准介绍分析

于leD的测量方式有所进展且标准的内容仍有扩充空间,四团体于2006年3月公布此标准的修订版,增加且修订原先的标准内容,在色度学的量测以及光通量的量测方式等作出更详细的规范。然基于谨

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230133.html2011/7/19 0:01:00

leD恒流驱动与不同控制模式的比较

品都应用这种方案,但普遍存在恒流问题。在要求输出功率较大而输出噪声较低的场合可采用pwm方式控制。3、 charge pump电荷泵解决方案是利用分立电容将电源从输入端送至输出

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230148.html2011/7/19 0:10:00

如何用mcu为照明应用提供功率控制和智能功能

联(图3)。另一个电容连在灯丝的两端。方

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230152.html2011/7/19 0:12:00

让leD灯符合emc及电能质量标准要求

当输入电压为115 vac时,裕值更高。图3 在230 vac最差情况下符合en55022a标准  结语  尽管存在一定的物理性限制,但是,以具有成本效益的方式将高性能hb leD

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利用单芯片mcu提高照明系统能源效率

高的效率。当hrp执行定时频率或工作周期抖动时,定时精度可减少到3.9 ns。如果 发现了问题,故障输入安全特性可产生一个信号,进行迅速关机。它可对大多数参数自动计算,因而容易使

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