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内置电源led日光灯的缺点和问题

者说,使得led的使用寿命也更缩短。而且,电源的长度大约为灯管长度的五分之一,电源所发的热也集中在这一段里面,使得靠近电源的这些led受到更热的烘烤,因而寿命也比其他地方的le

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258615.html2011/12/19 11:09:20

led结温产生的根本原因及处理对策

良的电极结构,视窗层衬底或结区的材料以及导电银胶等均存在一定的电阻值,这些电阻相互垒,构成led元件的串联电阻。当电流流过p—n结时,同时也会流过这些电阻,从而产生焦耳热,引致芯

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258613.html2011/12/19 11:09:16

高亮度led封装工艺技术及方案

粉  四、蓝led+znse单结晶基板  目前手机、数字相机、pda等背光源所使用之白光led采用蓝光单晶粒yag萤光而成。随着手机闪光灯、大中尺寸(nb、lcd-tv等)显示屏光

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258601.html2011/12/19 11:02:23

采用一根微控制器端口引线来控制两个led

率在100hz左右或更高,那么两个led将呈现出稳定的照亮状态。本电路最好是采用具有施密特触发器或模拟输入的微控制器。其他种类的微控制器有可能在输入被有靠近电源电压中心的偏压时产生不

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258583.html2011/12/19 11:01:30

串行flash存储器在小型led显示系统中的应用

以顺序读方式连续读显示数据,并将显示数据送p2口。  (4)每读一个数据通过p3.5产生一个sck脉冲(sst25vf016b在顺序读方式下地址自动1),将p2口上的显示数据移入7

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258576.html2011/12/19 11:01:12

led芯片寿命试验

况,我们规定了严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量严,而不是试验条件严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

2048像素led平板显示器件的封装

、红外等广域光线环境下自动显示出目标的准确位置(点)、图形、符号、数码等,精确跟踪高速运动的目标,特别适用于具有高性能、高可靠要求的系统和装备。 美、俄、日、、荷、法、德等国都

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258564.html2011/12/19 11:00:39

2048像素led平板显示器件的封装

、红外等广域光线环境下自动显示出目标的准确位置(点)、图形、符号、数码等,精确跟踪高速运动的目标,特别适用于具有高性能、高可靠要求的系统和装备。 美、俄、日、、荷、法、德等国都

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258563.html2011/12/19 11:00:36

2048像素led平板显示器件的封装

、微光、红外等广域光线环境下自动显示出目标的准确位置(点)、图形、符号、数码等,精确跟踪高速运动的目标,特别适用于具有高性能、高可靠要求的系统和装备。 美、俄、日、、荷、法、德等

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258553.html2011/12/19 10:59:24

2048像素led平板显示器件的封装

统和装备。 美、俄、日、、荷、法、德等国都在紧进行led平板显示器的光电混合集成、综合显示和控制技术的研究工作,对军事装备和民用设备性能的提高和改型起到愈来愈重要的作用。我

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