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本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国光学和光子标准化技术委员会(sac/tc103)归口。本标准为首次发布。
https://www.alighting.cn/news/20101123/109777.htm2010/11/23 18:05:18
气体膜分离技术的应用原理与气体膜分离的发展方向气体膜分离技术是近几年崛起的一项富有生命力的分离技术,被认为是最有发展的新技术之一.本文介绍了气体膜分离的机理及基本原理,以及膜的种
http://blog.alighting.cn/chinaas32/archive/2010/11/20/115478.html2010/11/20 17:16:00
英文版UV测试标准
https://www.alighting.cn/news/20101120/109794.htm2010/11/20 17:12:40
电、光学性能和产品寿命没能很好的表达，使道路照明设计人员选择灯具较为困
https://www.alighting.cn/news/20101120/109816.htm2010/11/20 14:35:50
雾酸碱环境下会不会被腐蚀呢？腐蚀的程度和周期有没有研究呢？在UV辐射下呢？在抗震、抗风、抗冲击下呢？在雷暴、磁变、瞬态冲击下呢？在emi\emc方面呢？……等等 这些问题工程师们设计
http://blog.alighting.cn/tangjunwen/archive/2010/11/19/115278.html2010/11/19 17:25:00
擅长：可靠性设计，成本优化、性能优化等。 产品类别：led显示屏、led照明； 技术领域：驱动设计，结构设计，散热设计、光学设计。
http://blog.alighting.cn/tangjunwen/2010/11/19 17:15:26
电子显微镜的光源是电子束，能够看到小于0.2微米的亚显微结构，光学显微镜的光源是可见光，最大放大倍数是1500倍，不能看到亚显微结构，同样，他们的工作原理也是不一样的，本文介绍简
https://www.alighting.cn/resource/20101119/128216.htm2010/11/19 13:43:20
显微镜是半导体光学生产和检测中常用的设备，对此就有必要学习下，总结一点显微镜参数的资料，给大家参考；
https://www.alighting.cn/resource/20101119/128217.htm2010/11/19 13:15:27
封装可靠性测试与评估 ：led器件的失效模式主要包括电失效(如短路或断路)、光失效(如高温导致的灌封胶黄化、光学性能劣化等)和机械失效(如引线断裂，脱焊等)，而这些因素都与封装结
http://blog.alighting.cn/Autumn/archive/2010/11/18/115036.html2010/11/18 16:56:00
接到pcb板上。 f)切膜：用冲床模切背光源所需的各种扩散膜、反光膜等。 g)装配：根据图纸要求，将背光源的各种材料手工安装正确的位置。 h)测试：检查背光源光电参数及出光均匀性是否良
http://blog.alighting.cn/Antonia/archive/2010/11/18/115017.html2010/11/18 16:05:00
