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桥梁照明

景观照明

  http://blog.alighting.cn/0188/archive/2012/6/19/279012.html2012/6/19 13:27:50

硅衬底led芯片主要制造工艺

种结构芯片电流垂直分布,衬底导率高,可靠高;发光层背面为金属反射镜,表面有粗化结构,取光效率高。   1.3 关键技术及创新   用si作gan发光二极管衬底,虽然使le

  http://blog.alighting.cn/qq367010922/archive/2010/12/14/120857.html2010/12/14 21:43:00

基于si衬底的功率型gan基led制造技术

种结构芯片电流垂直分布,衬底导率高,可靠高;发光层背面为金属反射镜,表面有粗化结构,取光效率高。   1.3关键技术及创新   用si作gan发光二极管衬底,虽然使le

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127090.html2011/1/12 17:23:00

led芯片寿命 试验方法

果的客观和准确。 3.1样品抽取方式 寿命试验只能采用抽样试验的评估办法,具有一定的风险。首先,产品质量具备一定程度的均匀稳定是抽样评估的前提,只有认为产品质

  http://blog.alighting.cn/tyqtyq/archive/2009/5/16/3426.html2009/5/16 18:50:00

led芯片寿命试验

果的客观和准确。   3.1样品抽取方式   寿命试验只能采用抽样试验的评估办法,具有一定的风险。首先,产品质量具备一定程度的均匀稳定是抽样评估的前提,只有认为产品质

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

led芯片寿命试验

的细节,逐一进行改善,保证了寿命试验结果的客观和准确。3.1样品抽取方式寿命试验只能采用抽样试验的评估办法,具有一定的风险。首先,产品质量具备一定程度的均匀稳定是抽样评

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

的细节,逐一进行改善,保证了寿命试验结果的客观和准确。3.1样品抽取方式寿命试验只能采用抽样试验的评估办法,具有一定的风险。首先,产品质量具备一定程度的均匀稳定是抽样评

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

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  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

的细节,逐一进行改善,保证了寿命试验结果的客观和准确。3.1样品抽取方式寿命试验只能采用抽样试验的评估办法,具有一定的风险。首先,产品质量具备一定程度的均匀稳定是抽样评

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

的细节,逐一进行改善,保证了寿命试验结果的客观和准确。3.1样品抽取方式寿命试验只能采用抽样试验的评估办法,具有一定的风险。首先,产品质量具备一定程度的均匀稳定是抽样评

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

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