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led寿命试验法

品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握led芯片光输出衰减状况,进而推其寿命。我们根据led器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

基于tpic6b273的led驱动控制设计

1 概述  tpic6b273是美国ti公司生产的一种8通道d型触发器锁存、功率输出新型器件,该器件集8位数据锁存、驱动输出控制为一体。 可用于led显示器的驱动等方面。其基本特

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261461.html2012/1/8 21:38:59

基于tpic6b273的led驱动控制设计

1 概述  tpic6b273是美国ti公司生产的一种8通道d型触发器锁存、功率输出新型器件,该器件集8位数据锁存、驱动输出控制为一体。 可用于led显示器的驱动等方面。其基本特

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261464.html2012/1/8 21:39:05

基于tpic6b273的led驱动控制设计

1 概述  tpic6b273是美国ti公司生产的一种8通道d型触发器锁存、功率输出新型器件,该器件集8位数据锁存、驱动输出控制为一体。 可用于led显示器的驱动等方面。其基本特

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262633.html2012/1/29 0:34:41

基于tpic6b273的led驱动控制设计

1 概述  tpic6b273是美国ti公司生产的一种8通道d型触发器锁存、功率输出新型器件,该器件集8位数据锁存、驱动输出控制为一体。 可用于led显示器的驱动等方面。其基本特

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262636.html2012/1/29 0:34:51

研发led壁垒的探讨

正进入实际照明的应用[2],也同时得到国内外光电子研究和照明产业界更引人的注目。随着材料生长和制作技术的迅猛发展,led的发光效率已取得了明显的提高,led器件也从早期的指示型le

  http://blog.alighting.cn/117400/archive/2012/3/16/268488.html2012/3/16 13:47:07

基于tpic6b273的led驱动控制设计

1 概述  tpic6b273是美国ti公司生产的一种8通道d型触发器锁存、功率输出新型器件,该器件集8位数据锁存、驱动输出控制为一体。 可用于led显示器的驱动等方面。其基本特

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271735.html2012/4/10 23:30:07

基于tpic6b273的led驱动控制设计

1 概述  tpic6b273是美国ti公司生产的一种8通道d型触发器锁存、功率输出新型器件,该器件集8位数据锁存、驱动输出控制为一体。 可用于led显示器的驱动等方面。其基本特

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271738.html2012/4/10 23:30:17

三、大功率led光源核心技术与优势

低直接影响到led出光效率、器件寿命、可靠性、发射波长等。保持led结温 允许的范围内,是大功率led芯片制备、器件封装和器件应用等每个环节都必须重点研究的关键因素,尤其是led器

  http://blog.alighting.cn/15196/archive/2012/4/17/272312.html2012/4/17 17:20:01

基于tpic6b273的led驱动控制设计

1 概述  tpic6b273是美国ti公司生产的一种8通道d型触发器锁存、功率输出新型器件,该器件集8位数据锁存、驱动输出控制为一体。 可用于led显示器的驱动等方面。其基本特

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