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灯具安全测试的常用标准
https://www.alighting.cn/resource/2011/1/17/114158_47.htm2011/1/17 11:41:58
英文版uv测试标准
https://www.alighting.cn/news/20101120/109794.htm2010/11/20 17:12:40
cree公司表示,tempo服务与校准的测试设备相结合,凝聚了该公司在客户led系统上积累多年的优势,可提升led器材制造商和终端用户对led产品设计方面的信心。
https://www.alighting.cn/news/20111008/114520.htm2011/10/8 9:52:01
led测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列,例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。尽管led的测试一般包含电气和光学测量,本文着重探讨电气特
https://www.alighting.cn/resource/20120813/126466.htm2012/8/13 17:53:00
最新的第17轮测试中对五个ar111方向灯的测试表明,这些灯因为颜色质量和发光强度分布特征并非是卤素ar111灯的有效替代品。
https://www.alighting.cn/news/2012816/n129442288.htm2012/8/16 9:11:37
德国著名的半导体沉积设备提供商aixtron爱思强股份有限公司(法兰克福证券交易所:aixa;纳斯达克:aixg)日前发表了新的ovpd展示设备olad(organic larg
https://www.alighting.cn/pingce/20160324/138369.htm2016/3/24 15:45:00
2014年受益于下游照明的强劲走势,牵一发而动全身的led产业链将利好传导至设备厂商,随着照明、封装厂商的积极扩产,开机率几近满载,封装、照明、测试及mocvd设备厂商迎来了低
https://www.alighting.cn/news/2014716/n836763809.htm2014/7/16 10:18:19
主要内容包括led主要特性、led寿命的定义、温度加速老化实验、led寿命计算原理、led老化测量周期的实验方法、主要测试设备及实际案例、led光源温度加速老化实验结果、led光
https://www.alighting.cn/resource/2012/12/10/132946_53.htm2012/12/10 13:29:46
近日,「北京大学-中为光电半导体照明测试中心」及「杭州市北大中为半导体装备研究所」签字仪式在北京大学隆重举行。
https://www.alighting.cn/news/20080603/108093.htm2008/6/3 0:00:00
7月22日,美国发布通报g/tbt/n/usa/1085/add.1,对通报g/tbt/n/usa/1085中的条款进行补充说明。能源部建议为某些类别的一般用途灯具制订能源测试程
https://www.alighting.cn/news/20160803/142503.htm2016/8/3 9:49:06