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由固晶缺陷引起的非均匀的评估

本文探讨了由由固晶缺陷引起的非均匀,并进行了总评估,欢迎下载交流。

  https://www.alighting.cn/2014/2/28 10:38:48

韩冰:led模块的及热阻测量

led模块的及热阻测量:目前世界上生产和使用led呈现急速上升的趋势,但是led存在发热现象,随着led的工作时间和工作电流的增加,其发光强度和光通量会下降,寿命降低,对白

  https://www.alighting.cn/resource/2011/4/14/17839_05.htm2011/4/14 17:08:39

seoul led (w42180-tsw02)光源热性能测试

测试主要针对seoul提供之4w大功率led(w42180-tsw02)emitter光源进行热性能测试

  https://www.alighting.cn/resource/20100706/129053.htm2010/7/6 0:00:00

大功率led 测量及发光特性研究

对光辐射功率有直接影响,若保持恒定,光辐射功率随电流增大线性增加;若保持外部散热条件不变,热阻大的芯片内部热量积累较快,导致上升速度更快,光效随电流增加而下降的趋势也

  https://www.alighting.cn/2013/3/20 11:12:16

新型白光led 的光谱特性和相关特性

研究了对于一体化封装的该新型白光led 发光特性的影响,果表明:高显色led 的从30°c上升到130 °c的过程中,芯片的蓝光辐射出现了较大幅度的减少.

  https://www.alighting.cn/2014/10/30 13:41:04

led灯具的热特性测试

摘要:本文介绍了测试led灯具内部芯片的方法及检测过程,并通过测试不同的led路灯工作时,说明了一般判定led灯具热特性的测试方法。

  https://www.alighting.cn/resource/2012/6/20/163640_07.htm2012/6/20 16:36:40

一种降低提高寿命的新型led散热技术方案(下)

本文继续分析一种降低提高寿命的新型led散热技术方案,详情请看下文。

  https://www.alighting.cn/resource/20150302/123553.htm2015/3/2 10:58:18

关于led热阻、、冷光源的三个问题

分析解释关于led热阻、、冷光源的三个问题,分享附件给大家,欢迎下载。

  https://www.alighting.cn/resource/20130326/125820.htm2013/3/26 10:50:10

【技术专区】led 封装器件芯片测试浅述(上)

led 的发热主要是来源于其芯片,目前认为其发热原因一是来自非辐射载子复合,二是来自载子复合产生光子并未能有效地发射出来。对于一个既是发光又是发热的 led 芯片,热电偶会因为吸收

  https://www.alighting.cn/pingce/20161205/146546.htm2016/12/5 10:03:20

一种降低提高寿命的新型led散热技术方案(上)

led的散热现在越来越为人们所重视,这是因为led的光衰或其寿命是直接和其有关,散热不好就高,寿命就短,依照阿雷纽斯法则度每降低10℃ 寿命会延长2倍

  https://www.alighting.cn/resource/20150302/123554.htm2015/3/2 10:37:35

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