站内搜索
集成电路测试(ic测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。
https://www.alighting.cn/resource/20141216/123917.htm2014/12/16 10:02:34
led全自动节能日光灯、球泡灯混合老化测试线,为深圳市广晟德科技发展有限公司2020神灯奖申报技术。
https://www.alighting.cn/pingce/20200306/166966.htm2020/3/6 15:19:56
led测试技术的概念,如何定义?
https://www.alighting.cn/resource/20100719/128337.htm2010/7/19 9:15:54
灯具安全测试的常用标准
https://www.alighting.cn/resource/2011/1/17/114158_47.htm2011/1/17 11:41:58
英文版uv测试标准
https://www.alighting.cn/news/20101120/109794.htm2010/11/20 17:12:40
led测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列,例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。尽管led的测试一般包含电气和光学测量,本文着重探讨电气特
https://www.alighting.cn/resource/20120813/126466.htm2012/8/13 17:53:00
断发热电源,蜂鸣提示 18.老化试验箱依照的测试标准 gb5170.2-1996 本产品属本公司标准型号产品,如果您有特殊要求,我们可以根据您的要求定做。 售后服务承诺:本产
http://blog.alighting.cn/zhongbaowj/archive/2010/5/22/45274.html2010/5/22 14:59:00
最新的第17轮测试中对五个ar111方向灯的测试表明,这些灯因为颜色质量和发光强度分布特征并非是卤素ar111灯的有效替代品。
https://www.alighting.cn/news/2012816/n129442288.htm2012/8/16 9:11:37
其老化特性进行了对比研究。研究结果表明,在三种基板中铜支撑基板的器件老化后光电特性最稳定。把这一现象归结于三种样品的应力状态以及基板热导率的不同,其中应力状态可能是影响器件可靠
https://www.alighting.cn/2013/4/7 17:06:00
7月22日,美国发布通报g/tbt/n/usa/1085/add.1,对通报g/tbt/n/usa/1085中的条款进行补充说明。能源部建议为某些类别的一般用途灯具制订能源测试程
https://www.alighting.cn/news/20160803/142503.htm2016/8/3 9:49:06