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ic测试基本原理与ate测试向量生成

集成电路测试(ic测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。

  https://www.alighting.cn/resource/20141216/123917.htm2014/12/16 10:02:34

led全自动节能日光灯、球泡灯混合老化测试线——2020神灯奖申报技术

led全自动节能日光灯、球泡灯混合老化测试线,为深圳市广晟德科技发展有限公司2020神灯奖申报技术。

  https://www.alighting.cn/pingce/20200306/166966.htm2020/3/6 15:19:56

什么是:led测试技术?

led测试技术的概念,如何定义?

  https://www.alighting.cn/resource/20100719/128337.htm2010/7/19 9:15:54

灯具安全测试的常用标准

灯具安全测试的常用标准

  https://www.alighting.cn/resource/2011/1/17/114158_47.htm2011/1/17 11:41:58

英文版uv测试标准

英文版uv测试标准

  https://www.alighting.cn/news/20101120/109794.htm2010/11/20 17:12:40

高亮度led的高精度高性价比测试

led测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列,例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。尽管led的测试一般包含电气和光学测量,本文着重探讨电气特

  https://www.alighting.cn/resource/20120813/126466.htm2012/8/13 17:53:00

老化试验箱|老化

断发热电源,蜂鸣提示 18.老化试验箱依照的测试标准 gb5170.2-1996 本产品属本公司标准型号产品,如果您有特殊要求,我们可以根据您的要求定做。 售后服务承诺:本产

  http://blog.alighting.cn/zhongbaowj/archive/2010/5/22/45274.html2010/5/22 14:59:00

doe发布第17轮caliper项目测试结果

最新的第17轮测试中对五个ar111方向灯的测试表明,这些灯因为颜色质量和发光强度分布特征并非是卤素ar111灯的有效替代品。

  https://www.alighting.cn/news/2012816/n129442288.htm2012/8/16 9:11:37

不同基板1w硅衬底蓝光led老化性能研究

老化特性进行了对比研究。研究结果表明,在三种基板中铜支撑基板的器件老化后光电特性最稳定。把这一现象归结于三种样品的应力状态以及基板热导率的不同,其中应力状态可能是影响器件可靠

  https://www.alighting.cn/2013/4/7 17:06:00

美国对一般用途电灯的测试程序进行补充说明

7月22日,美国发布通报g/tbt/n/usa/1085/add.1,对通报g/tbt/n/usa/1085中的条款进行补充说明。能源部建议为某些类别的一般用途灯具制订能源测试

  https://www.alighting.cn/news/20160803/142503.htm2016/8/3 9:49:06

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