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一种降低提高寿命的新型led散热技术方案(上)

led的散热现在越来越为人们所重视,这是因为led的光衰或其寿命是直接和其有关,散热不好就高,寿命就短,依照阿雷纽斯法则度每降低10℃ 寿命会延长2倍

  https://www.alighting.cn/resource/20150302/123554.htm2015/3/2 10:37:35

韩冰:led模块的及热阻测量

led模块的及热阻测量:目前世界上生产和使用led呈现急速上升的趋势,但是led存在发热现象,随着led的工作时间和工作电流的增加,其发光强度和光通量会下降,寿命降低,对白

  https://www.alighting.cn/resource/2011/4/14/17839_05.htm2011/4/14 17:08:39

半导体的近似计算

半导体器件的是一个重要参数,特别对于功率器件而言,直接决定了器件的可靠性和使用寿命。

  https://www.alighting.cn/resource/20110503/127676.htm2011/5/3 13:27:38

大功率led 测量及发光特性研究

对光辐射功率有直接影响,若保持恒定,光辐射功率随电流增大线性增加;若保持外部散热条件不变,热阻大的芯片内部热量积累较快,导致上升速度更快,光效随电流增加而下降的趋势也

  https://www.alighting.cn/2013/3/20 11:12:16

【技术专区】led封装器件芯片测试浅述(中)

在算之前我们必须要知道器件的热阻值(一般器件的规格书上都有热阻值),然后在器件工作状态下用热电偶测量引脚度或壳来算出。那么热阻是什么玩意呢,又是如何利用热阻和壳

  https://www.alighting.cn/pingce/20161222/147049.htm2016/12/22 17:09:31

基于相对光谱强度的非接触式led测量法

实验果显示:所提出的测量方法与正向压降法测量果差距不超过2℃,该方法保持了正向压降法的测量较为准确的优点,克服了光谱法的光谱漂移过小,对测试果带来较大误差的缺点.

  https://www.alighting.cn/2015/1/4 13:50:29

由固晶缺陷引起的非均匀的评估

本文探讨了由由固晶缺陷引起的非均匀,并进行了总评估,欢迎下载交流。

  https://www.alighting.cn/2014/2/28 10:38:48

【技术专区】led 封装器件芯片测试浅述(上)

led 的发热主要是来源于其芯片,目前认为其发热原因一是来自非辐射载子复合,二是来自载子复合产生光子并未能有效地发射出来。对于一个既是发光又是发热的 led 芯片,热电偶会因为吸

  https://www.alighting.cn/pingce/20161205/146546.htm2016/12/5 10:03:20

电压法测量led的原理及热阻测试

功率型led及其灯具的热性能测试,对于led的生产和应用研发都有十分直接的意义。以下将简述led及其灯具的主要热性能指标,电压度系数k、和热阻的测试原理、测试设备、测试内

  https://www.alighting.cn/news/20120316/89521.htm2012/3/16 10:50:04

led灯条灯泡测量分析

led灯条做成的普泡形灯泡,不需加透镜既能实现360度全角度的光源,使人有回归传统白炽灯的感觉。led灯条灯具有多项应用优势,在市场上刮起了一股不小的旋风,正快速地被用户所接受。

  https://www.alighting.cn/resource/20140815/124348.htm2014/8/15 10:08:36

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