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小型lcd背光的led驱动电路设计考虑因素

近驱动器的位置。此外,电流设定电阻(rfb)应该直接连接至芯片的接地,因为内部参考和检测电压之间的错误会直接影响led电流精确度。  4. 在真实环境下测您的试产品  考虑显示屏在外

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258580.html2011/12/19 11:01:23

高亮度led发光效益技术

体(encapsulating polymers)造成影响。  仅管一些测试显示,在晶粒(die)的型式下, 即使电流高到130ma仍能正常工作;但采用一般的封装后,led只能在20ma的条件下发

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258579.html2011/12/19 11:01:19

工业级高信赖性led路灯系统评量指针

境温度为60℃因此路灯散热系统温升必须小于δt≦15℃,以本公司150wled路灯为例热传散热系统温升测试低达δt≦12~15℃,计算其热阻值tr=0.08~0.1℃/w,而一般设

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258578.html2011/12/19 11:01:16

oled 进入手机主显示应用

-45到80℃) 、内部dc-dc升压、以及图形加速指令等一些特性。solomon systech的oled驱动器都具备所有这些特性, 提升了oled的使用寿命和可靠性, 增

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258577.html2011/12/19 11:01:14

串行flash存储器在小型led显示系统中的应用

存器中有8个74hc595级联,4组共用了32个74hc595。74hc595内部电路框图如图1(c)所示。所有4组74hc595的控制信号rck,sck,en全部接在一起,74h

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258576.html2011/12/19 11:01:12

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

大电流led调光方法的对比分析

术的性能表现,并通过测试数据来衡量不同配置下的性能。调光范围在pwm调光中,led正向电流以受控的占空比(ddim)进行开/关(on/off),以达到想要的亮度级别。ddim的动态范

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258568.html2011/12/19 11:00:47

大电流led调光方法的对比分析

能表现,并通过测试数据来衡量不同配置下的性能。调光范围在pwm调光中,led正向电流以受控的占空比(ddim)进行开/关(on/off),以达到想要的亮度级别。ddim的动态范围定

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258567.html2011/12/19 11:00:45

大电流led调光方法的对比分析

通时间的降压式led驱动器中,高频pwm调光技术的性能表现,并通过测试数据来衡量不同配置下的性能。调光范围在pwm调光中,led正向电流以受控的占空比(ddim)进行开/

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258566.html2011/12/19 11:00:43

光纤led驱动电路的设计

d,hfbr-24xz内部集成了包括pin光电检测器、直流放大器及集电极开路输出schottky型晶体管的一个ic芯片,其输出可直接与流行的ttl及cmos集成电路相连。4一种实用的光

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