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试各参数，再进行荧光胶烘烤，荧光胶烘烤出烤后以及制成成品后皆进行测试相关数据。 3.将a、b、c三种荧光粉按合适比例配好荧光胶，然后点胶，标号⑦，测试参数，荧光胶烘烤，出
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用材料进行点胶，各标号①、②、③，各点3pcs，用is测试机台测试光通量、显色指数等参数，进行荧光胶烘烤后以及制成成品后皆进行测试相关数
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次和上批次各10pcs灯仔进行打磨，测试其支架深度和晶片高度，发现两者相差不大。 结论：从数据来看，此次支架深度和晶片高度对角度的影响很小，可排除。 (4) 总结
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127046.html2011/1/12 16:45:00
%左右，良率偏低。 (2) 分析步骤： 对封胶机台的气泡不良进行抽检，抽检数据如下： 第一次抽检2k,发现气泡15pcs，不良比例为0.75%,抽检时间为刚洗沾胶
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127047.html2011/1/12 16:45:00
2ma 关断时间： toff=10.8us 按此数据思考，全电压 18w led 日光灯开关恒流源的设计电路如图 3 所示，其各部分的功能如红字所标注。图中抗雷击和 em
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127034.html2011/1/12 16:40:00
年总耗电（度） 123 34 表1：t8荧光灯与某型led管灯的参数对照表(数据来源：《厦门市节能照明能效技术的分析及工程应用研究总结报告》、某型led管灯第三
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合方法，如球形焊和楔形焊，试验数据表明采用球形焊接机进行的链状焊互连可获得最好结果。对于标准的球形/针脚焊，先形成球形，再将引线拉至针脚处键合，形成led的互连。链形键合是球形/针脚
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127031.html2011/1/12 16:39:00
种威胁影响其寿命：一是过电冲击，就是led上施加的电流超过该led技术数据手册中的最大额定电流，包括过压引起的过电冲击;另一种是过热损伤。这些损坏可以表现为器件的立即失效，也可能发
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积推广，但是在国际、国内形势及用户的迫切的需求下，重庆市启动了科技攻关重点项目，以便为重庆市高速公路500，600公里的隧道照明提供一个科学、严谨的支持数据，从而能大面积的推
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心，蓝膜上最多有5000 粒芯片，但必须保证每张蓝膜上芯片的数量不得少于1000 粒，芯片类型、批号、数量和光电测量统计数据记录在标签上，附在蜡光纸的背面。蓝膜上的芯片将做最后的目检
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