检索首页
阿拉丁已为您找到约 40398条相关结果 (用时 0.0192993 秒)

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

与尺寸大小关系不大,但与电极的位置有关,p焊线电极远离n电极的芯片20ma下的输出功率高,正向压降也高。  关键词:gan基led;i-v特性;p-i特性;  gan基半导体材料近

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262654.html2012/1/29 0:35:55

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

与尺寸大小关系不大,但与电极的位置有关,p焊线电极远离n电极的芯片20ma下的输出功率高,正向压降也高。  关键词:gan基led;i-v特性;p-i特性;  gan基半导体材料近

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271756.html2012/4/10 23:31:25

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

与尺寸大小关系不大,但与电极的位置有关,p焊线电极远离n电极的芯片20ma下的输出功率高,正向压降也高。  关键词:gan基led;i-v特性;p-i特性;  gan基半导体材料近

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274765.html2012/5/16 21:30:35

ommb-led高效集成面源技术介绍

内外led室内通用照明迅速发展的瓶颈,是亟待解决的共性关键问题。commb-led源技术中文含义解释为led芯片直接贴在高反率的镜面金属基板上的高效集成面源技术,封装技

  https://www.alighting.cn/resource/2012/4/6/92052_85.htm2012/4/6 9:20:52

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/qq88655029/archive/2010/10/18/108672.html2010/10/18 15:16:00

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258638.html2011/12/19 11:10:15

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261435.html2012/1/8 21:28:55

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262606.html2012/1/29 0:33:13

的测量

1.谱测量 谱测量是研究源的基础。对谱功率数据的分析可以提供度和 色度的量,也可以给出源的显色性,暴露于辐射下有害健康的估计数据和有关 源构成的信息。进行这

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271708.html2012/4/10 23:23:34

日亚化:亿在日本申诉的led专利议题被裁定日亚化专利有效

日本led大厂日亚化(nichia)指出,台厂亿(everlight)先前与日本智慧财产单位 - 日本特许厅(智慧财产局)申请的19项专利无效宣告请求,该公司有一些声明要提出。

  https://www.alighting.cn/news/20131108/111734.htm2013/11/8 9:50:58

首页 上一页 439 440 441 442 443 444 445 446 下一页