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led照明灯具可靠性分析

般由封装结构材料、工艺引起,即封装结构和用的环氧、硅胶、导电胶、荧光粉、焊接、引线、工艺、温度等因素引起的。  (2)十度法则  某些电子器件在一定温度范围内,温度每升高10

  http://blog.alighting.cn/chhi008/archive/2013/2/2/309248.html2013/2/2 8:43:51

东芝宣布硅基白光led封装产品开始量产

led芯片的生产通常是使用昂贵的蓝宝石基片在2至4英寸的圆上完成。东芝与bridgelux, inc.已经开发出一种在200mm硅圆上制造氮化镓led的工艺,而东芝目前已将

  https://www.alighting.cn/pingce/20121217/121992.htm2012/12/17 9:42:51

edwards发布led和化合物半导体制造的真空泵

edwards公司宣布推出新的ixh645h干泵,新设备经过优化,适用于led制造中使用的mocvd工艺,以及在栅堆叠(gate stack)中使用iii-v材料的化合物半导体制

  https://www.alighting.cn/pingce/20120704/122149.htm2012/7/4 9:28:10

山西联盛led生产基地在阳城建成投产

山西联盛彩灯工艺制作有限公司是一家集研发、生产、销售、安装城市景观灯和工艺灯组为一体的民营企业。10月2日,经过一年多的建设,山西联盛led生产基地在阳城县建成投产。

  https://www.alighting.cn/news/2013109/n072657191.htm2013/10/9 14:30:56

山西联盛彩灯led生产基地在阳城建成投产

山西联盛彩灯工艺制作有限公司是一家集研发、生产、销售、安装城市景观灯和工艺灯组为一体的民营企业,10月2日,经过一年多的建设,山西联盛led生产基地在阳城县建成投产。

  https://www.alighting.cn/news/20131011/n059057290.htm2013/10/11 16:17:57

高效率金属微腔oleds性能

人们常采用低吸收的分布式布拉格反射镜( dbr )来作为微腔oleds的出光面, 但基于dbr的微腔oleds器件结构和制备工艺较复杂。而采用半透明金属薄膜电极的微腔oleds器

  https://www.alighting.cn/resource/20141205/123971.htm2014/12/5 10:11:31

影响良品率的非可见残余物缺陷的检测及其消除

工艺上加速进步的步伐会引入新的影响良品率的缺陷种类,其中一些类型的缺陷并不能被光学检测手段所检测到。这些缺陷被称之为“非可见性缺陷(non visual defects,nv

  https://www.alighting.cn/resource/20141104/124129.htm2014/11/4 12:37:24

用于下一代3d-ic的圆熔融键合技术

圆熔融键合技术上的最新进展已显示了它在提升键合对准精度上的能力过去的30年中,尺寸缩小和摩尔定律己成为硅平面工艺领域推动成本降低的主要动力。在这期间,主要的技术进步都

  https://www.alighting.cn/resource/20141104/124133.htm2014/11/4 10:35:50

led芯片生产中的“过程能力指数”分析

由于半导体制造工艺的复杂性,生产一个完整器件所需涉及的庞大工艺制程数量,以及检测内容的多样化等等原因,必然要求芯片生产中的“过程能力指数”分析必须在遵循原先质量统计理论的基础上有

  https://www.alighting.cn/resource/20140825/124327.htm2014/8/25 10:48:18

南北亚半导体势力崛起 大陆企业逢敌手

体设备,未来angstrem将采用先进工艺中不可或缺的铜工艺(cumeta

  https://www.alighting.cn/news/2007612/V2482.htm2007/6/12 16:21:30

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