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利用pld方法沉积了si基zno薄膜，通过结构和电学特性的测量，研究了在o2气氛下退火温度对zno薄膜微结构的改善。研究得到：o2气氛下700℃退火，zno薄膜中出现施主深能级局
https://www.alighting.cn/2013/1/22 17:55:42
吧。设计师通过对原有建筑的仔细评估和测量保留了原厂房空间的尺度和设备。fly lounge整体空间开放而富有节奏感。入口接待区及名酒展示区洞口的霓虹灯管为fly lounge打下了感
https://www.alighting.cn/case/20171107/43782.htm2017/11/7 9:49:47
℃±2℃，连续操作360小时，实验结束后再行测量光通量值，在如此高温环境下测试led灯具的信赖性，对于厂商而言也是一项重大考
https://www.alighting.cn/resource/20120905/126424.htm2012/9/5 15:44:41
料好20%以上。对led背光源的温度场进行了实际测量,计算结果和实测温度相一致,证明所提出的分析方法是可
https://www.alighting.cn/2012/5/21 10:17:30
d发光显微图形及实际器件的版图,并在对器件进行了正、反向i-v特性测试、光功率及光谱特性的测
https://www.alighting.cn/resource/20120312/126682.htm2012/3/12 10:46:52
杂荧光粉的制备工艺条件和有效激发波长，测量了eu2+离子不同掺杂含量对荧光粉发光特性的影
https://www.alighting.cn/2012/3/6 18:20:23
本文采用cu靶和al靶直流共溅射法制备出p型透明导电cu-al-o薄膜,用原子力显微镜(afm)、x射线衍射(xrd)仪、四探针测量仪、紫外-可见分光光度计等测试手段对沉积的薄
https://www.alighting.cn/resource/20111020/126989.htm2011/10/20 14:02:02
及红外粗糙因子 ,表明在较低的 ph值的nh4f-hcl溶液中腐蚀的si(1 1 1 )表面粗糙度较大,与通过扫描隧道显微镜 (stm)技术测量的结果基本一致
https://www.alighting.cn/2011/10/17 14:03:59
验,对inxga1-xn制备过程中的in组份掺入效率的温度依赖关系进行研究.通过对制备样品的pl谱测量分析,得到了587℃~600℃的in组份最佳掺入温度区间
https://www.alighting.cn/resource/20110930/127050.htm2011/9/30 10:32:39
采用磁控溅射的方法在蓝宝石衬底上制备了氧化铟锡(ito)透明氧化物薄膜;研究了不同厚度薄膜的结构、光学和电学特性。经x射线衍射(xrd)测量,发现在蓝宝石衬底上生长的ito薄膜呈
https://www.alighting.cn/resource/20110909/127167.htm2011/9/9 9:52:23
