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基于hv9931的单位功率因数led驱动器设计

离恒流输出降升压-降压(buckboost-buck)电源变换器。ac线路输入通常为85~264vac,经全波桥式整流后直接至vin脚(该脚上的dc输入电压为8~450vac),

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/8/18/232675.html2011/8/18 1:28:00

基于hv9931的单位功率因数led驱动器设计

离恒流输出降升压-降压(buckboost-buck)电源变换器。ac线路输入通常为85~264vac,经全波桥式整流后直接至vin脚(该脚上的dc输入电压为8~450vac),

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/8/18/232679.html2011/8/18 1:38:00

led芯片寿命试验

况,我们规定了严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量严,而不是试验条件严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

况,我们规定了严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量严,而不是试验条件严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led寿命试验法

为科学的样品抽取方式:将芯片按其在外延片的位置分为四区,分区情况参见图一所示,每区2~3粒芯片,共8~10粒芯片,对于不同器件寿命试验结果相差悬殊,甚至矛盾的情况,我们规定了严寿

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

led寿命试验法

为科学的样品抽取方式:将芯片按其在外延片的位置分为四区,分区情况参见图一所示,每区2~3粒芯片,共8~10粒芯片,对于不同器件寿命试验结果相差悬殊,甚至矛盾的情况,我们规定了严寿

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

led芯片寿命试验

况,我们规定了严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量严,而不是试验条件严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

况,我们规定了严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量严,而不是试验条件严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

况,我们规定了严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量严,而不是试验条件严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

况,我们规定了严寿命试验的办法,即每区4~6粒芯片,共16~20粒芯片,按正常条件进行寿命试验,只是数量严,而不是试验条件严;第三,一般地说,抽样数量越多,风险性越小,寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

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