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LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

如何描述LED的基本特性?

LED作为一个电致发光的p-n结器件,其特性可通该p-n结的电 学参数,以及作为一个发光器件的光学参数来进行描述。 伏安特性是描述一个p-n结器件的重要参数,它是p-n结性

  http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120381.html2010/12/13 14:28:00

台湾联胜光电年底硅衬底月产能达500万颗

联胜总裁黄国欣指出,等了10年,联胜的硅衬底LED自5月开始正式出货,年底单月产能上看500万颗,且良率可提升至60%,届时硅衬底LED毛利率将远高于蓝宝石衬底LED,有助于联

  https://www.alighting.cn/news/20120521/114122.htm2012/5/21 13:56:49

yole:LED一般照明应用产值占比上看50%

发光二极体(LED)照明应用发展再写新页。随着LED市场竞争日趋激烈,以及价格快速下滑,LED在一般照明的应用比例已急遽攀升。

  https://www.alighting.cn/news/20131121/87658.htm2013/11/21 9:40:14

被动元件厂商雷科跨足LED照明领域

被动元件电阻上游厂雷科(6207)6月3日召开股东常会,雷科董事长郑再兴表示,除3月跨入半导体主动元件封装材料市场外,雷科还将积极布局LED照明业务。郑再兴指出,雷科已新成立le

  https://www.alighting.cn/news/20090604/95692.htm2009/6/4 0:00:00

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