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验。生产工艺稳定时，1000小时的寿命试验频次较低，5000小时的寿命试验频次可更低。 3、过程与注意事项 对于led芯片寿命试验样本，可以采用芯片，一般称为裸晶，也可以采用经过封装
http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00
间 强光 h ≥4 频 闪光 ≥5 5 充电时间（电池耗尽后） h ≤6 6 电池使用寿命 次循环
http://blog.alighting.cn/qichen/archive/2011/4/28/167573.html2011/4/28 14:29:00
明显当用作电流有几百ma 甚至更高的高亮led 的驱动时,功率电路的损耗就成了比较严重的问题。 3 主电路结构设计 3.1 开关电源的应用与发展 以高频变压器取代工频变压
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229919.html2011/7/17 23:13:00
验周期为1000小时或以上的称为长期寿命试验。生产工艺稳定时，1000小时的寿命试验频次较低，5000小时的寿命试验频次可更低。3、过程与注意事项对于led芯片寿命试验样本，可以采
http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00
用驱动ic-rt84系列，立锜表示，有别于市面上多采用磁滞控制的降压型led驱动ic,立锜全系列产品采用定频控制，使电感值的减少维持为磁滞控制的三分之一，其定频控制方式也比磁滞控制
http://blog.alighting.cn/113268/archive/2011/10/20/246941.html2011/10/20 17:51:08
http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2011/11/14/252844.html2011/11/14 16:56:08
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258435.html2011/12/19 10:47:06
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43
