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匀分布的线光源。要求在某一设计规范标准下确定线光源的长度。 该设计规范在简化后可描述如下。在焦点f正前方25米处的a点放置一测试屏，屏与fa垂直，用以测试车灯的反射光。在屏上
http://blog.alighting.cn/1306/archive/2007/11/26/8011.html2007/11/26 19:28:00
量值。相应的半导体发光二极管测试方法标准sj/t 2355-2006规定测量器件需装在无限大的热沉上，而目前国内一般工厂往往采用普通的积分球进行光通量的测量。不同的积分球，对le
http://blog.alighting.cn/1133/archive/2007/11/26/8014.html2007/11/26 19:28:00
况 国际电工委员会（ｉｅｃ）将照明半导体产品标准归属ｉｅｃ/ｔｃ３４（灯及其相关设备）标准化技术委员会对口管理与制定。有关测试方法的标准由国际照明委员会（ｃｉｅ）负责制
http://blog.alighting.cn/1290/archive/2007/11/26/8025.html2007/11/26 19:28:00
织关于t8荧光灯镇流器能效等级的划分。 表1规定的能效等级，应按照欧盟标准en 50294进行测试，可以给定相应的等级。 欧盟已经禁止使用的c级和d级电感镇流器，正是我
http://blog.alighting.cn/1327/archive/2007/11/26/8027.html2007/11/26 19:28:00
c测试波形图表允许值的兰线以下）。 3.2 传导干扰的技术方案 探讨电子镇流器电磁兼容性（emc）技术方案的本质，实际就是探讨差模（dm）和共模（cm）传导干扰的抑制方法，更
http://blog.alighting.cn/1117/archive/2007/11/26/8030.html2007/11/26 19:28:00
摘要：通过对灯具空间光强测试方法的研究，提出了一种空间光强测试新方法。建立了灯具空间光强自动对中的数据模型，介绍了空间光强自动测试装置的组成和测试原理，给出了一种投射灯的详细测
http://blog.alighting.cn/1165/archive/2007/11/26/8039.html2007/11/26 19:28:00
定的行业标准“半导体发光二极管测试方法”，主要有发光峰值波长、光谱辐射带宽、轴向发光强度、光束半强度角、光通量、辐射通量、发光效率、色品坐标、相关色温、色纯度和主波长、显色指数等参
http://blog.alighting.cn/1133/archive/2007/11/26/8076.html2007/11/26 19:28:00
多印制线铜箔在此处发生断裂或脱落。 #next# 串接在电路中总的限流电阻阻值过小，限流作用减弱。经过测试和计算，如果电网电压升高10％，led灯内温度升高到3
http://blog.alighting.cn/1083/archive/2007/11/26/8077.html2007/11/26 19:28:00
、住宅和家庭的照明电器可能距其它电子、电器装置较近，因之更容易产生干扰，故“b”级比“a”级的电磁干扰限制更为严格（要求在emc测试波形图表允许值的兰线以下）。 传导干扰的技术方
http://blog.alighting.cn/1117/archive/2007/11/26/8114.html2007/11/26 19:28:00
目前我国大中型城市里，普通家庭中约有40％的灯是荧光灯，办公室约为80％，学校教室比例高达95％以上。然而测试表明，大部分荧光灯都有不同程度的紫外线辐射，有的紫外线辐射甚至到了可
http://blog.alighting.cn/1011/archive/2007/11/26/8133.html2007/11/26 19:28:00
