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并投入寿命试验，完成连续试验后进行复测，以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确，除做好测试仪器的计量外，还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试仪测试，以减少不必要的误差因
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08
求， ssd 须放防静电容器内，贮运中要远离静电，电磁场或放射场的位置。 11 、 ssd 元器件应分类拿放，静电敏感符号 符号符合 gjb1649 规定。 e 、防静电材料的度测方法与时
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262604.html2012/1/29 0:33:07
f = 20ma下测试其电特性测。因此，为了得到预知的和匹配的亮度与色度，建议采用恒流驱动(courtesy nichia corporation)。图4给出了四种常用的电源电
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262637.html2012/1/29 0:34:54
大，对减小ｐ型欧姆接触电阻有利，但增加了电流运输的距离，可能使体电阻增加，两种效果冲抵使得芯片的ｉ－ｖ特性与尺寸小一些的图１（ｂ）版图芯片相似。图２（ａ）采用对角电极，所测ｉ－ｖ特
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262654.html2012/1/29 0:35:55
近驱动器的位置。此外，电流设定电阻(rfb)应该直接连接至芯片的接地，因为内部参考和检测电压之间的错误会直接影响led电流精确度。 4. 在真实环境下测您的试产品 考虑显示屏在外
http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262660.html2012/1/29 0:36:29
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