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led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

基于tlc5902的led图像显示屏的驱动控制

tlc5902是美国texas instruments公司生产的专门用于图像显示的led驱动芯片,该器件集移位寄存器、数据锁存器于一体,同时带有电流值调整恒流电路以及脉宽调制25

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271768.html2012/4/10 23:32:20

串行flash存储器在小型led显示系统中的应用

口方式0似乎可以利用单片机发出的移位脉冲将8位数据送入74hc595中,但要实现图2中8位数据的同时输入必须加入其他的辅助芯片,而且在减小数据传输时间上没有什么好处。其次,采

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271766.html2012/4/10 23:32:13

oled 进入手机主显示应用

在发现电子发光机理的十年后,有机发光二极管(oled)技术最终商用在手机,mp3和数码相机中。按display search的数据报告, 从2001年第一颗单芯片oled驱动器

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271765.html2012/4/10 23:32:07

工业级高信赖性led路灯系统评量指针

进参考。1.)led芯片&封装组件发光效率关键技术指针:首要之led芯片&封装组件关键技术美、日厂商均已量产突破发光效率100~120 lm/w以上,超越传统最高效

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271764.html2012/4/10 23:32:04

高亮度led发光效益技术

光。这是因为当芯片是以高电流来驱动时,所产生的高热会造成铜 导线框(lead-frame)从原先封装好的位置迁移。因此在芯片与导线框间存在着tce的不协调性,这种不协调性是对led可

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271763.html2012/4/10 23:32:00

小型lcd背光的led驱动电路设计考虑因素

近驱动器的位置。此外,电流设定电阻(rfb)应该直接连接至芯片的接地,因为内部参考和检测电压之间的错误会直接影响led电流精确度。  4. 在真实环境下测您的试产品  考虑显示屏在外

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271762.html2012/4/10 23:31:50

倒计时led显示屏的设计

带一led,依次为am,pm,及4个秒闪烁led。74hc595的每个输出脚低电平具有25ma的段动能力,可驱动约3英寸以下的共阳led字符;对于大型/特大型字符,驱动芯片改用tpic

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在手机照相机光源应用领域驱动大电流led的高性能技术

c3453是专门在大电流相机光源领域中优化效率、准确度以及控制led电流的产品(见图1)。  ltc3453利用了一个同步的降压-升压型电源结构和可编程的低压降电流源以调整led电

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芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

摘 要:用同种gan基led外延片材料制作了不同尺寸和电极位置的芯片,测试比较了它们的i-v特性和p-i特性。结果表明:gan基led芯片在20ma以下的i-v特性和p-i特性

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