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led光电性能测试的主要方面

强分布的不一致使测试结果随测试距离和探测器孔径变化。因此,cie-127提出了两种推荐测试条件使各个led在同一条件下进行光强测试与评价,目前cie-127条件已经被各led制造

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230087.html2011/7/18 23:26:00

led测试标准 led测试方法

d由于其光强分布的不一致使测试结果随测试距离和探测器孔径变化。因此,cie-127提出了两种推荐测试条件使各个led在同一条件下进行光强测试与评价,目前cie-127条件已经被

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230107.html2011/7/18 23:49:00

led 灯具标准体系建设研究

下几个原则:1.光源发光和灯具用光的两分离原则任何场合照明使用的光线都是光源发出的,而不是灯具,灯具只是为了使光发散更好、使用上更安全方便而提供的一种设备,因此灯具的标准仅规定如

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230118.html2011/7/18 23:54:00

led分选技术

同的发光角度,不同的客户要求,不同的应用要求,这使用权完全通过led测试分选取进行产品的分选变很难操作。而且目前led的应用主要分布在几个波长段和亮度段的范围,一个封装厂很难准

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230127.html2011/7/18 23:59:00

led光源的视觉亮度与灯具测量的误差分析

境比传统光源照明环境明亮多,为何会有这样的现象产生?这还从不同光源的光谱能量分布说起。  光是一种电磁波的一种形式,是波长在380nm~760nm之间的电磁波辐射,位于紫外线

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230130.html2011/7/19 0:00:00

如何为ccfl和led背光供电

制。+enable输入控制背光的开/关,+pw脉宽调节斩波驱动器的导通与截止,以实现调光。该设计可以实现相当紧凑(见图4)。散热考虑lcd工作时的环境温度是背光驱动器设计人员需要考

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230160.html2011/7/19 0:17:00

基于cpld的led点阵显示控制器

于很大资源浪费。如果采用现场可编程逻辑器件作为cpu来设计控制器,选择合适的器件,利用器件  丰富的i/o口、内部逻辑和连线资源,采用自顶而下的模块化设计方法,可以方便地设计整

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230163.html2011/7/19 0:19:00

oled发光材料测试电源控制部分的结构设计

0~200 v电压。即pwm脉宽从0~50弘s。根据pic芯片pwm脉宽寄存器赋值计算公式,pwm脉宽寄存器赋值范围为00h~ofah。其程序设计流程如图4所示。程序设计思路为:初始

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230292.html2011/7/19 23:44:00

10mm电视不是梦想 oled显示技术解密

路,开辟了与kodak公司截然不同的oled研发路子。4、oled与lcd相比有哪些优点和缺点?  首先,最能表现出来的就是oled显示屏幕能做非常纤细,因为oled器件的核心层厚

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230294.html2011/7/19 23:46:00

多色led丰富新世代数位生活

度控制等等的整个技术上,都已经获的突破性的发展。图说:sony在2007年发表了耗功仅有200w的70吋led背光液晶电视,这款电视的背光模块,sony只使用了450颗的3原

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