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led芯片及led器件的测试分选

led的分选有两种方法:一是以芯片为基础的测试分选,二是对封装好的led进行测试分选。

  https://www.alighting.cn/resource/20141230/123832.htm2014/12/30 9:32:03

照明产品的光生物安全探讨及测试技术新进展

自国际电工委员会iec 推出光生物安全测量评价标准iec 62471 之后,各国相继引用,光生物安全自此正式进入标准化测量评价阶段。2012 年,iec tc34 针对蓝光危害的

  https://www.alighting.cn/resource/20141229/81361.htm2014/12/29 18:08:16

大功率led路灯照明的关键指标

一、前言二、城市路灯照明的基本要求三、现有路灯照明的几个主要问题四、使用大功率led用作路灯光源的优势五、目前相关产品测试的性能指标附件为《大功率led路灯照明的关键指标》pd

  https://www.alighting.cn/resource/20141226/81297.htm2014/12/26 18:03:25

高效led技术改善住宅及商业照明应用

victor zaderej报道了在美国橡树岭国家实验室进行的住宅中led和荧光灯照明对比测试结果,并展望半导体照明的其他进步将如何影响商业照明应用。

  https://www.alighting.cn/2014/12/26 14:29:34

十二步了解led芯片的制作工艺

本文简单介绍了led芯片的制作工艺。详情请看下文。

  https://www.alighting.cn/resource/20141225/123854.htm2014/12/25 11:15:03

基于fpga实现逻辑芯片的功能故障测试

在最原始的测试过程中,对集成电路(integrated circuit,ic)的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率

  https://www.alighting.cn/2014/12/25 10:08:15

提高led外量子效率的研究进展

文章简述了提高外量子效率的集中有效途径,如便面微粗化技术、芯片非极性面/半极性面生长技术、倒装芯片技术、生长分布布喇格反射出结构、激光剥离技术,纳米压印与su8胶相结合技术、光

  https://www.alighting.cn/2014/12/22 13:37:39

赛尔富实验室获得vde tdap授权

e program)实验室,今后实验室可直接通过tdap的方式完成led电源类产品的vde认证测

  https://www.alighting.cn/news/20141217/81002.htm2014/12/17 17:44:43

mocvd法制备cu掺杂zno薄膜

线衍射(xrd)、x射线光电子能谱(xps)及光致发光(pl)谱等方法对不同tcu条件下cu掺杂zno薄膜的结构及光学特性进行测试及分

  https://www.alighting.cn/2014/12/17 11:43:13

ic测试基本原理与ate测试向量生成

集成电路测试(ic测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。

  https://www.alighting.cn/resource/20141216/123917.htm2014/12/16 10:02:34

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