站内搜索
提出一种快速评价led可靠性的有效方法。通过测试led样品的伪失效寿命,结合minitab软件进行数据分析,确定全部样品的伪失效寿命服从二参数的威布尔分布。通过计算威布尔分布尺
https://www.alighting.cn/resource/20130416/125719.htm2013/4/16 11:17:51
介绍了发光二极管(led)的发展简史。提出可能影响led可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和led本身材料缺陷。对于led可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一
https://www.alighting.cn/2013/5/29 10:20:47
随着led行业的发展，led灯具的高节能、长寿命、利环保的优越性能也获得普遍的公认，但随之而来的led驱动器可靠性低下的问题也成为众人所关注的热点。下面先让我们来分析影响led驱
https://www.alighting.cn/2013/11/6 11:08:39
led路灯恒流驱动电源输出电流的稳定性和一致性直接影响整个照明系统的可靠性,而恒流驱动电源中元器件的参数值受到内外部因素的干扰会造成电源输出电流的波动。本文首先介绍了一种改进的可
https://www.alighting.cn/2013/5/20 10:23:20
本文为关于《高低温循环对led器件可靠性的影响》的一篇研究性文章，从背景到实验方法，再到实验的结果，内容详尽，结论清晰。
https://www.alighting.cn/2012/3/13 15:09:36
近日，新世纪led网记者与力为电子赖庚友总经理进行了面对面的交流。访谈中，赖总谈到了力为在人才、技术、产品可靠性等方面做出的努力，表达了对标准模组化的看法，并畅谈了力为未来整
https://www.alighting.cn/news/20110826/86225.htm2011/8/26 15:49:58
日前，在广东省科学技术厅的领导下，在工业和信息化部科技司和电子信息司的大力支持下，工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)在广州举行了“广东省半导体照明质量与可靠性服务中心
https://www.alighting.cn/news/20121109/99060.htm2012/11/9 11:02:26
三十八研究所研究员、高级工程师汪军先生发表了《从军工角度论述led驱动电源的可靠性》的精彩报
https://www.alighting.cn/news/20110725/109003.htm2011/7/25 15:41:15
采用x光双晶衍射仪分析了gan基发光二极管外延材料晶体结构质量并制成gan-led芯片,对分组抽取特定区域芯片封装成的gan-led器件进行可靠性试验。对比分析表明,外延晶片中的
https://www.alighting.cn/resource/20130325/125827.htm2013/3/25 10:51:55
首先介绍了大功率白光led封装的前景和其主要功能,然后对大功率白光led封装的关键技术,包括荧光胶封装工艺、外封胶选取、大尺寸晶片封装、可靠性测试与评估方面做了阐述。并对光斑改
https://www.alighting.cn/resource/20110527/127541.htm2011/5/27 17:51:15
